異物存在的位置污物可能存在

判斷異物存在的位置 污物可能存在的位置：物鏡、目鏡或裝片 (1)移動玻片：異物移動，則異物在載玻片上。 (2)更換目鏡：異物不隨載玻片移動而移動，更換目鏡后消失，則異物在目鏡上。 (3)更換物鏡：若執(zhí)行前兩次操作后異物仍然存在，但更換物鏡后消失，則異物在物鏡上。 要使視野變亮，一般使用大光圈和凹面鏡;使視野變暗，一般用平面鏡和小光圈。 光學顯微鏡和電子顯微鏡 光學顯微鏡下看到的是顯微結(jié)構(gòu)，包括細胞壁、葉綠體、細胞核，染色后的線粒體等。 電子顯微鏡下看到的是亞顯微結(jié)構(gòu)，包括細胞膜、內(nèi)質(zhì)網(wǎng)膜、核膜、核糖體、微體、微管和微絲、高爾基體、中心體等直徑小于0.2微米的細胞超微結(jié)構(gòu)。

顯微鏡比對模式

顯微鏡比對模式： 1、 可將實時影像中的實際工件進行拍照（包含影像上所標注的尺寸及線條圖形），并可以JPEG格式儲存于計算機中，形成產(chǎn)品圖庫。 2、 可將存于圖庫中的JPEG圖檔打開，并與同一畫面中實時的影像相互比對。 注： 1、影像式金相測量顯微鏡可將以往用肉眼在傳統(tǒng)顯微鏡下所觀察之影像將其數(shù)字化并轉(zhuǎn)換至計算機中作各式的繪圖及測量，再可將所得到的數(shù)據(jù)及圖形數(shù)據(jù)儲存于計算機中，以便數(shù)據(jù)存盤及電子郵件發(fā)送。 2、適用于微型芯片電路檢測、PCB板或其它金屬鍍層厚度檢測，金屬表面結(jié)構(gòu)分析及其它高倍顯微檢測。用途：可供觀察和檢測各種PCB線路板、LCD液晶顯示板、金屬金相組織，研潤企業(yè)生產(chǎn)其舒適精致的鏡體機構(gòu)、輕松快捷的操作方式，是工礦企業(yè)工業(yè)光學檢測儀器及學校金相教學用儀器的；流線型、高穩(wěn)定性的鏡體設(shè)計，使用方便、功能齊全，適合在單偏光、正偏光及錐光下觀察礦物的晶體形狀、著色、干涉色等，并準確地鑒定各種礦物或其它晶體試樣薄片的光學性質(zhì)。.

純金屬(或單相均勻固溶體)的浸蝕基本上為化學溶解過程

純金屬(或單相均勻固溶體)的浸蝕基本上為化學溶解過程。位于晶界處的原子和晶粒內(nèi)部原子相比，自由能較高，穩(wěn)定性較差，故易受浸蝕形成凹溝。晶粒內(nèi)部被浸蝕程度較輕，大體上仍保持原拋光平面。在明場下觀察，可以看到一個個晶粒被晶界(黑絡)隔開。如浸蝕較深，還可以發(fā)現(xiàn)各個晶粒明暗程度不同的現(xiàn)象。這是因為每個晶粒原子排列的位向不同，浸蝕后，以密排面為主的外露面與原拋光面之間傾斜程度不同的緣故。

徠卡顯微鏡運作一年后,易每年至少做一次的專業(yè)維護保養(yǎng)

顯微鏡是一種精密的光學儀器，做好顯微鏡的日常維護和保養(yǎng)，是非常重要的運作。日常在使用徠卡顯微鏡時需要注意這樣一些問題： 采取下列措施，能更好的延長您的顯微鏡使用時間并使之保持的運作狀態(tài)。 （1）每次關(guān)閉顯微鏡電源前，請將顯微鏡燈光調(diào)至zui暗。 （2）關(guān)閉顯微鏡電源后，請等燈箱完全冷卻后（約15分鐘后），在罩上顯微鏡防塵罩。 （3）開啟顯微鏡電源后，若暫時不使用，可以將顯微鏡燈光調(diào)至zui暗，而無需頻繁開關(guān)顯微鏡電源。徠卡顯微鏡運作一年后，易每年至少做一次的專業(yè)維護保養(yǎng)。