等離子發(fā)生器光源：一代等離子發(fā)生器是至今堅(jiān)固的激發(fā)光源。超穩(wěn)定的能量釋放在氣環(huán)境中激發(fā)樣品。全數(shù)字信號(hào)發(fā)生配合全數(shù)字能量輸出，確保激發(fā)區(qū)等離子體能量超高分辨率和高保真輸出。 在標(biāo)準(zhǔn)分析應(yīng)用中18秒內(nèi)可以獲得分析數(shù)據(jù)，提高了樣品輸出量和過(guò)程控制效率。

基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標(biāo)準(zhǔn)基體的任意組合。

火花直讀光譜儀原理：火花直讀光譜儀用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長(zhǎng)，用光柵分光后，成為按波長(zhǎng)排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過(guò)出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印出各元素的百分含量。

適合分析材料：黑色金屬，有色金屬

應(yīng)用領(lǐng)域：冶金、機(jī)械及其他工業(yè)部門(mén)

特點(diǎn)：采樣方式靈活，對(duì)于稀有和貴重金屬的檢測(cè)和分析可以節(jié)約取樣帶來(lái)的損耗。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

光電直讀光譜儀在鑄造行業(yè)的發(fā)展應(yīng)用傳統(tǒng)的鑄鐵分析檢測(cè)過(guò)程，是以手工化學(xué)分析也就是人們常說(shuō)的"濕法分析"方法為主的。這種分析方法過(guò)程長(zhǎng)、強(qiáng)度高、功能單一、穩(wěn)定性差、人為誤差大，已經(jīng)不能滿足時(shí)代的要求，也很難幫助企業(yè)達(dá)到以上四大目標(biāo)。儀器科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，大大縮短了分析時(shí)間，減少了人為誤差及廢品率，很好的促進(jìn)了以上四個(gè)生產(chǎn)目標(biāo)的形成與發(fā)展。

近年來(lái)，儀器分析法在鑄造行業(yè)化學(xué)成分分析中得到廣泛應(yīng)用。國(guó)內(nèi)大多數(shù)鑄造及大型鋼鐵企業(yè)通過(guò)先進(jìn)儀器迅速提高了分析檢測(cè)裝備水平。在企業(yè)鑄件主體生產(chǎn)體系，通常采用光電直讀光譜儀(OES)，X熒光光譜儀（XRF）這兩類儀器，實(shí)施所謂的儀器化分析改進(jìn)。這類儀器是一種利用物理電能激發(fā)，使試樣中不同化學(xué)元素原子發(fā)生能級(jí)躍遷而產(chǎn)生不同光譜，并使其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)進(jìn)行定量檢測(cè)的大型精密儀器。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制