NDC光學(xué)測(cè)厚儀的原理

NDC T100光學(xué)測(cè)厚儀是由基于多年經(jīng)驗(yàn)的NDC集團(tuán)獨(dú)立發(fā)展并應(yīng)用在厚度、寬度和速度測(cè)量的技術(shù)。系統(tǒng)由可以完全避免測(cè)量元件振動(dòng)的異常堅(jiān)固的測(cè)量臂、長壽命半導(dǎo)體激光器和陣列攝像頭組成?？梢宰詣?dòng)使用測(cè)量表面的反射變化。

產(chǎn)品厚度是通過計(jì)算測(cè)量框架的氣隙和每一端到測(cè)量對(duì)象表面的和的差值取得的。如圖所示，測(cè)量的精度取決于三角測(cè)量法的精度和c-型架的穩(wěn)定性。

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NDC X射線鍍層測(cè)量儀FVXR-1的測(cè)量原理

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NDC FVXR-1 測(cè)量儀利用X射線束激發(fā)金屬能或熒光來測(cè)量金屬涂層。NDCFVXR-1Al:10-180g/m2/邊（熱鍍鋁鋅）。金屬涂層原子吸收這些X射線后，帶有一定能量的光子從原子力釋放出來。釋放光子所需能量的大小取決于涂料的多少，一個(gè)環(huán)形離子室被用來接收這些能量并將之轉(zhuǎn)換為一個(gè)信號(hào)，測(cè)量儀計(jì)算機(jī)在高頻下處理這個(gè)信號(hào)來測(cè)量涂層重量。

NDC X射線鍍層測(cè)量儀的數(shù)據(jù)處理

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UNI500測(cè)量軟件包為所有的NDC 測(cè)量儀提供測(cè)量軟件平臺(tái)，在UNI500可靠和快速的測(cè)量平臺(tái)上，測(cè)量系統(tǒng)具有的公用設(shè)施為：

工業(yè)計(jì)算機(jī)

有效、實(shí)時(shí)的開放系統(tǒng)處理全部測(cè)量數(shù)據(jù)、通訊和功能。多功能-多用戶系統(tǒng)包括一個(gè)可以長期儲(chǔ)存詳細(xì)測(cè)量數(shù)據(jù)、事件和報(bào)警的關(guān)系數(shù)據(jù)庫。

人機(jī)接口(HMI)以圖表的形式顯示系統(tǒng)數(shù)據(jù)和狀態(tài)，如趨勢(shì)圖、立面圖和直方圖等。人機(jī)接口非常易于用戶的編輯。

從多個(gè)地點(diǎn)連接到UNI500系統(tǒng)上的多個(gè)人機(jī)接口可以實(shí)時(shí)顯示不同測(cè)量點(diǎn)的測(cè)量信息。

NDC測(cè)厚儀的應(yīng)用

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1、激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

3、紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

4、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

5、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

6、超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。利用NDCFVXR-1設(shè)計(jì)上的所有技術(shù)優(yōu)勢(shì)發(fā)明了一種特殊的結(jié)合了探測(cè)單向紋所需大面積高清晰度的探測(cè)頭，同事仍舊保持了涂層端面測(cè)量時(shí)的低傳感器噪音。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。