詳細(xì)分享校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀

　校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀目的是為了確保安全生產(chǎn)過程用于監(jiān)視生產(chǎn)氣體中某種氣體體積濃度的儀器的準(zhǔn)確性，特質(zhì)定本自校規(guī)程。　　本規(guī)程規(guī)定了紅外線氣體分析儀的技術(shù)要求，校準(zhǔn)設(shè)備，校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)結(jié)果的處理，本規(guī)程僅適用于具規(guī)定范圍內(nèi)的紅外線氣體分析儀的校準(zhǔn)。

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紅外線氣體分析儀用途及應(yīng)用范圍：

紅外線氣體分析儀器用于連續(xù)分析CO、CO2、SO2、CH4、NH3等多種氣體在混合物中的含量。該產(chǎn)品為全數(shù)字化處理，在指標(biāo)及功能上均有很大提高。產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，如：化工、石油、冶金等工業(yè)，也可應(yīng)用于環(huán)保、農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生等部門，還可用于科研、學(xué)校、實(shí)驗(yàn)室分析。

1．用于大氣及污染源排放檢測；

2．用于石油、化工、電站、鋼鐵、焦炭、水泥等工業(yè)過程控制；

3．用于農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生和科研等領(lǐng)域等。

紅外線氣體分析儀的測量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準(zhǔn)確檢測待測組分的濃度，可采取多種措施，如設(shè)置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進(jìn)入測量氣室或檢測器之前就被吸收掉，只讓待測組分特征吸收波帶的光通過。

　　水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產(chǎn)狀態(tài)的變化，預(yù)處理運(yùn)行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會使進(jìn)入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長范圍內(nèi)幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當(dāng)兩者的吸收波帶重疊時(shí)，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來的測量誤差。因?yàn)檫@些措施對水分和被測組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會隨時(shí)變化，所以很難估計(jì)其對測量誤差的影響。減少或降低水分對待 測組分的干擾，目前的有效辦法是在預(yù)處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點(diǎn)。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。