紅外線氣體分析儀用途及應用范圍：

紅外線氣體分析儀器用于連續(xù)分析CO、CO2、SO2、CH4、NH3等多種氣體在混合物中的含量。該產品為全數(shù)字化處理，在指標及功能上均有很大提高。產品應用領域廣泛，如：化工、石油、冶金等工業(yè)，也可應用于環(huán)保、農業(yè)、醫(yī)學衛(wèi)生等部門，還可用于科研、學校、實驗室分析。

1．用于大氣及污染源排放檢測；

2．用于石油、化工、電站、鋼鐵、焦炭、水泥等工業(yè)過程控制；

3．用于農業(yè)、醫(yī)學衛(wèi)生和科研等領域等。

紅外線氣體分析儀的作用 

紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進行的氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產生一個電容檢測器的電信號。這樣，就可間接測量出待分析組分的濃度。

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:I--被介質吸收的輻射強度;I0--紅外線通過介質前的輻射度;K--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);C--待分析組分的氣體濃度;L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質前的輻射強度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出:通過測量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。

紅外線氣體分析儀的測量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準確檢測待測組分的濃度，可采取多種措施，如設置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進入測量氣室或檢測器之前就被吸收掉，只讓待測組分特征吸收波帶的光通過。

水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產狀態(tài)的變化，預處理運行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會使進入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長范圍內幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當兩者的吸收波帶重疊時，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來的測量誤差。因為這些措施對水分和被測組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會隨時變化，所以很難估計其對測量誤差的影響。減少或降低水分對待 測組分的干擾，目前的有效辦法是在預處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。