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許多行業(yè)都需要能夠在極端高溫等惡劣環(huán)境下可靠工作的電子設(shè)備。依照傳統(tǒng)做法,在設(shè)計(jì)需要在常溫范圍之外工作的電子設(shè)備時,工程師必須采用主動或被動冷卻技術(shù),但某些應(yīng)用可能無法進(jìn)行冷卻,或是電子設(shè)備在高溫下工作時更為有利,可提升系統(tǒng)可靠性或降低成本。這便提出了影響電子系統(tǒng)方方面面的諸多挑戰(zhàn),包括硅、封裝、認(rèn)證方法和設(shè)計(jì)技術(shù)。
高溫測試詳細(xì)介紹:本測試是用來確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時間。
低溫試驗(yàn)介紹:本試驗(yàn)是用來確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時間。
在我們的大自然環(huán)境中,溫度和濕度是不可分割的兩個自然因素,不同地區(qū)由于不同的地理位置,產(chǎn)生的溫度、濕度效應(yīng)也各不相同。本試驗(yàn)是用來確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時間。