大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理

因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。

現(xiàn)在，ELSZseries的標準cell可對應低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且，通過采用了FST法*的高濃度類cell，可測量出高濃度樣品的ZETA電位。

ELSZ-2000Z

測量原理 雷射都卜勒法（Laser Doppler）

光源 高功率、高穩(wěn)定性半導體鐳射

感光元件 高感度APD

樣品容器 標準樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器

溫度范圍 0 ~ 90℃ （具備梯度功能）

電源規(guī)格 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz

尺寸 380（W） × 600（D） × 210（H）mm

重量 約22kg