氦質譜檢漏儀（Helium Mass SpectrometerLeakDetector）為氣體工業(yè)名詞術語，用氦氣或者氫氣作示漏氣體，以氣體分析儀檢測氦氣而進行檢漏的質譜儀。氦氣的本底噪聲低，分子量及粘滯系數(shù)小，因而易通過漏孔并易擴散；另外，氦系惰性氣體，不腐蝕設備，故常用氦作示漏氣體。將這種氣體噴到接有氣體分析儀（調整到僅對氦氣反應的工作狀態(tài)）的被檢容器上，若容器有漏孔，則分析儀即有所反應，從而可知漏孔所在及漏氣量大小。

氣密性檢測行業(yè)的IP防水等級簡介

IPXX防護等級是由兩個數(shù)字所組成，個數(shù)字表示防塵、防止外物侵入的等級，第2個數(shù)字表示防濕氣、防水浸入的密閉程度，數(shù)字越大表示其防護等級越高。

以代碼IP54 為例：

IP 表明這是標準型的

5 表明固體中的防護等級

4 表明液體中的防護等級

第l一特性

防護等級（代碼中的第l一個數(shù)字）

簡要描述定義

0 無防護

1 防直徑為50mm 甚至更大的固體顆粒物物體尖l端或50mm 直徑的固體顆粒物不能完全穿透。

2 防直徑為12.5mm 甚至更大的固體顆粒物物體尖l端或12.5mm 直徑的固體顆粒物不能完全穿透。

3 防直徑為2.5mm 甚至更大的固體固體顆粒物物體尖l端或2.5mm 直徑的固體顆粒物完全不能穿透。

4 防直徑為1mm 甚至更大的固體固體顆粒物物體尖l端或1mm 直徑的固體顆粒物完全不能穿透。

5 灰塵防護：并不能完全防止塵埃進入，但不會達到妨礙儀器正常運轉及降低安全性的程度。

6 灰塵禁錮：塵埃無法進入物體整個直徑不能超過外殼的空隙

一般來說，下列一些緣故會導致溫度轉變，從而對檢測造成危害：1、充氣全過程中氣體分子結構磨擦熱普遍狀況：充氣全過程中氣體分子結構磨擦會造成發(fā)熱量造成，依據(jù)氣體式子PV=NRT，所知會造成檢測腔體內部工作壓力上升，當充氣完畢后溫度又會遲緩修復到一切正常的室內溫度，因而充氣完畢后的穩(wěn)壓管時間假如不充足，即到測試階段腔體內部溫度仍出自于下降的回應期，那麼從而溫度下降所造成的工作壓力下降就會立即體現(xiàn)到儀器設備所檢測的泄露量中。危害:在測試階段泄露量由大縮小直到保持穩(wěn)定。

檢測意義

密封性能是指包裝袋密封的可靠性，通過該測試可以確保整個產品包裝密封的完整性，防止因產品密封性能不好，而導致的泄漏、污染、變質等問題。該設備主要適用于食品廠、藥品廠、包材廠、質檢機構、研究院校等企業(yè)機構使用。