X射線熒光鍍層測厚儀  

一六儀器快速精準分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

1.超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時會被反射，測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業(yè)中應用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。對于鋼材，大測定厚度達2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

2.磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

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儀器規(guī)格：

 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長x寬x高）

 樣品倉尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長x寬x高）

 儀器重量 ：55kg

 供電電源 ：交流220±5V

 da功率 ：330W

 環(huán)境溫度：15℃-30℃

 環(huán)境相對濕度：<70%

X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

第四,在生產(chǎn)過程中,補償值也會對X射線測厚儀的測量精度造成影響。我們利用測厚儀測量是,會事先給測厚儀輸入一個補償值,讓測量值與實際值相等。在這個過程中,操作者首先對板材進行測量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會造成補償值的大小不等,會形成人為的誤差。顯示測量結(jié)果后，一定要提起測頭至距離工件10mm以上，才可以進行下次測量。只有在進行測量時,操作者認真操作,減少補償值得測算誤差,使補償值接近真實值,提高X射線測厚儀的測量精度。 

X射線熒光的基本原理

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

當X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。一六儀器X熒光鍍層測厚儀微聚焦射線管和先進光路設計以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。

X射線的激發(fā)

   如果要得到某元素的特征X射線，需要對元素原子內(nèi)層電子進行激發(fā)，使得內(nèi)層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，從而在內(nèi)層軌道形成電子空穴，當較高能級電子填補這一空穴時，才會發(fā)射一定能量的特征X射線，這個過程就是X射線的激發(fā)。