儀一六儀器 快速精準分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

測厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測厚儀

四、電解式（庫倫法）

五、金相測試法

六、非破壞熒光式（X光）

具體講下渦流測厚儀原理如下：

1.渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。測厚儀主要類型用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。

2.同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設(shè)計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

性能優(yōu)勢：

   下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

   率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

   EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

 我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

三、操作步驟

4. 判斷是否需要校準儀器。如果需要，選擇適當?shù)男史椒ㄟM行校 準；

  5.  測量。將測頭垂直接觸工件的測量面，并輕壓測頭的加載套，當 測頭與被測工件表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標識和測量值。如果測量標識閃爍或無測量標識則表示測頭不穩(wěn)定.移開測頭后，測量標識消失，厚度值保持。

  6.  儀器關(guān)機

一六儀器  一liu品質(zhì)！各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系！

影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些

  影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因為一點點的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個點。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準度的因素有所了解了。

(4) 在系統(tǒng)校準時沒有選擇合適的基體。基體較面為7mm，較小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

   (5)儀器發(fā)生故障。此時可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

首先,是X射線的高壓控制箱會對測量的精度造成一定的影響。X射線測厚儀的測量原理就是通過施加高壓電源出X射線,通過X射線的穿透物體時的衰減量來測量被測物體的厚度。但是高壓控制箱的安裝位置會對測厚儀的準確度造成一定的影響。安裝的位置不當就會使測量的精度不準確波動比較明顯。另外,X射線本身的衰減也會影響測厚儀的測量精度。本公司先進的技術(shù)，you秀的良將，嚴格的企業(yè)管理是不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。