大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

應(yīng)用范圍■光學(xué)薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學(xué)材料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

用基準Sample實施設(shè)備，偏光prism unit的角度校正和基準Sample自身的Retardation測量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時進行。

  設(shè)置場所    　：　屋內(nèi)設(shè)置（避免太陽直射）

   周圍溫度    ：２０～３5℃ 不存在溫度急劇變化的場合

   相對濕度    ：３０～８０％

   周圍環(huán)境    ： 濕氣、灰塵少、無腐蝕性氣體、換氣良好

   電壓　    ：　AC110V±10V（單相）

             ：沒有急劇的負載變化 。  

             ：附近沒有顯著噪聲源。接地應(yīng)該是接地電阻１００Ω以下。

               MAX 15A

偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構(gòu)，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。

因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置，作為設(shè)置場所，請考慮以下條件。萬一，下記條件未被滿足的場合，本系統(tǒng)的性能有可能無法發(fā)揮其100%.請注意。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準sample。

  本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。