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光譜膜厚儀服務(wù)為先

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發(fā)布時(shí)間:2020-07-29 10:58  







一六儀器  X-RAY測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家,歡迎來電咨詢!

測(cè)厚儀,多薄多復(fù)雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用!

一六儀器提供的測(cè)厚儀可測(cè)試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。

  測(cè)量注意事項(xiàng):⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。

⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。



能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理


江蘇一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀 

穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線的發(fā)生與特征當(dāng)用高能電子束照耀樣品時(shí),人射高能電子被樣品中的電子減速,這種帶電拉子的負(fù)的加快度會(huì)發(fā)生寬帶的延續(xù)X射線譜,簡(jiǎn)稱為延續(xù)潛或韌致輻射。

另一方面,化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀,如內(nèi)層電子被激起,則當(dāng)外層電子躍遷時(shí),就會(huì)出特征X射線。

能量色散X射線是一種別離的不延續(xù)譜.假如激起光源為x射線,則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征X射線顯示了特征能量色散X射線熒光光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。

當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí),如光子能量大于原子中的電子約束能,電子就會(huì)被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng),被打出的電子稱為光電子。經(jīng)過研討光電子或光電效應(yīng)可以取得關(guān)于原子構(gòu)造和成鍵形態(tài)的信息。






一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例


測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些?測(cè)厚儀在使用過程中,如果操作不規(guī)范,很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問題,因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見問題的處理方法:


四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管;

2、應(yīng)有妥善的保管場(chǎng)所(有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜,距生活區(qū)一米遠(yuǎn));

3、長期不使用時(shí),應(yīng)放置保管場(chǎng)所;

4、衛(wèi)生

5、應(yīng)定期清理主機(jī)和探頭外表面,對(duì)源鉛罐上表面也要定期清理。



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X射線測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素

X射線源的衰減對(duì)于工廠現(xiàn)場(chǎng)的的標(biāo)定過程中,隨著使用時(shí)間的增加,燈管的曲線會(huì)發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時(shí)間的遞加,厚度偏差會(huì)越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測(cè)量精度的一個(gè)主要原因。另外,被測(cè)量的物體,可能會(huì)上下跳動(dòng),偏離測(cè)量時(shí)的位置,這種傾斜也會(huì)影響測(cè)量的精度。除了正常使用過程中X射線源會(huì)出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會(huì)發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化通過不過,反饋的電壓與工廠現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測(cè)厚儀的測(cè)量精度肯定是不準(zhǔn)確的。




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