一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

上照式：通常都有Z軸可移動(dòng)，所以可對(duì)形狀復(fù)雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測(cè)試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置，搭配先進(jìn)的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒(méi)有Z軸可移動(dòng)，所以不可對(duì)凹面等無(wú)法直接接觸測(cè)試窗口的位置進(jìn)行定位并測(cè)試，但操作簡(jiǎn)單，造價(jià)相對(duì)低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測(cè)試復(fù)雜形狀樣品，同時(shí)也抬高了價(jià)格

江蘇一六儀器    X熒光光譜測(cè)厚儀

下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

  無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

  接收：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

  EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

       江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

       X熒光鍍層測(cè)厚儀金屬成分含量的測(cè)定

在包含某種元素1的樣品中，照射一次X射線，就會(huì)產(chǎn)生元素1的熒光X射線，不過(guò)這個(gè)時(shí)候的熒光X射線的強(qiáng)度會(huì)隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多，熒光X射線的強(qiáng)度就會(huì)變強(qiáng)。注意到這一點(diǎn)，如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光X射線強(qiáng)度，就可以推算出樣品中元素1的含量。通過(guò)測(cè)角器以1∶2速度轉(zhuǎn)動(dòng)分析晶體和探測(cè)器，可在不同的布拉格角位置上測(cè)得不同波長(zhǎng)的X射線而作元素的定性分析。采用定量分析的時(shí)候，可以在樣品中加入高純度的二氧化硅，作為參比樣，并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案

X射線熒光光譜測(cè)厚儀操作流程:

1.打開(kāi)儀器電源 開(kāi)關(guān)

2.打開(kāi)測(cè)試軟件

3.聯(lián)機(jī)

4.打開(kāi)儀器高壓鑰匙，觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右

5.待機(jī)30分鐘

6.打開(kāi)測(cè)試腔放入標(biāo)準(zhǔn)元素片Ag，通過(guò)調(diào)整移動(dòng)平臺(tái)滑軌和焦距旋鈕使軟件測(cè)試畫面清晰

7.點(diǎn)擊峰位校正圖標(biāo)按照提示進(jìn)行操作

8.根據(jù)已知樣品信息新建（或選擇）合適的產(chǎn)品程式

9.點(diǎn)擊資料圖標(biāo)，根據(jù)客戶需求調(diào)整相關(guān)測(cè)量參數(shù)

10.放置樣品：打開(kāi)測(cè)試腔，將樣品需要測(cè)試的一面大致朝向測(cè)試窗，邊觀察軟件測(cè)試畫面邊通過(guò)移動(dòng)平臺(tái)滑軌微調(diào)測(cè)試位置

進(jìn)而達(dá)到測(cè)試要求位置

11.調(diào)整焦距：使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕，使得軟件測(cè)試畫面盡可能清晰

12.開(kāi)始測(cè)量：點(diǎn)擊開(kāi)始測(cè)試圖標(biāo)，進(jìn)行樣品測(cè)試或者按動(dòng)儀器前面板測(cè)試按鈕進(jìn)行樣品測(cè)試

13.數(shù)據(jù)報(bào)告：對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比和分析，判斷數(shù)據(jù)是否正常，若出現(xiàn)異常可進(jìn)行多次測(cè)量排除偶然誤差

14.生成報(bào)告：點(diǎn)擊預(yù)覽報(bào)告可以對(duì)測(cè)試報(bào)告內(nèi)容和格式進(jìn)行調(diào)整，還可以電子版保存報(bào)告和直接打印紙質(zhì)報(bào)告

15.整理反饋：對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和整理，可通過(guò)給出測(cè)試報(bào)告的形式與客戶進(jìn)行溝通和反饋