自動(dòng)聚焦顯微鏡的研究在高倍率顯微圖像的處理過(guò)程中,自動(dòng)聚焦具有重要意義。本文對(duì)動(dòng)態(tài)自動(dòng)聚焦顯微鏡的清晰度自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)和高精度位置隨動(dòng)系統(tǒng)進(jìn)行了分析,提出了理想的清晰度檢測(cè)方法評(píng)價(jià)參數(shù)的特征,敘述了微分峰值檢測(cè)法的原理、實(shí)驗(yàn)結(jié)果、 控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和整機(jī)性能評(píng)價(jià)。如有您需要訂購(gòu)，歡迎來(lái)電咨詢我們公司，為您提供詳細(xì)介紹！

EMMI (Emission Microscopy)是用來(lái)做故障點(diǎn)定位、尋找亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測(cè)器，可偵測(cè)組件中電子－電洞再結(jié)合時(shí)所發(fā)射出來(lái)的光子，其光波長(zhǎng)在 350 nm ~ 1100 nm，此范圍相當(dāng)于可見光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。





EMMI可廣泛應(yīng)用于偵測(cè)各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(yīng)(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管，可藉由EMMI定位，找熱點(diǎn)(Hot Spot 或找亮點(diǎn))位置，進(jìn)而得知缺陷原因，幫助后續(xù)進(jìn)一步的失效分析。