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OPTM光學膜測試服務為先

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發(fā)布時間:2020-11-29 14:42  

大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!


彩色抗蝕劑(RGB)的薄膜厚度測量[FE - 0003]

液晶顯示器的結構通常如右圖所示。 CF在一個像素中具有RGB,并且它是非常精細的微小圖案。 在CF膜形成方法中,主流是采用應用在玻璃的整個表面上涂覆基于顏料的彩色抗蝕劑,通過光刻對其進行曝光和顯影,并且在每個RGB處僅留下圖案化的部分的工藝。 在這種情況下,如果彩色抗蝕劑的厚度不恒定,將導致圖案變形和作為濾色器導致顏色變化,因此管理膜厚度值很重要。





硬涂層膜厚度的測量[FE-0004]

近年來,使用具有各種功能的高i性能薄膜的產品被廣泛使用,并且根據應用不同,還需要提供具有諸如摩擦阻力,抗沖擊性,耐熱性,薄膜表面的耐化學性等性能的保護薄膜。通常保護膜層是使用形成的硬涂層(HC)膜,但是根據HC膜的厚度不同,可能出現(xiàn)不起保護膜的作用,膜中發(fā)生翹曲,或者外觀不均勻和變形等不良。 因此,管理HC層的膜厚值很有必要。




膜厚儀直接的鍍膜操縱方法是石英晶體微量平衡法(QCM),此法可以直接驅動蒸發(fā)祥,通過PID控制循環(huán)驅動擋板,保持蒸發(fā)速率。只有將儀器與系統(tǒng)控制軟件相連接,它就可能節(jié)制全體的鍍膜進程。然而QCM的正確度是有限的,部分起因是由于它監(jiān)控的是被鍍膜的質量而不是其光學厚度。


影響膜厚儀測量的的客觀因素

耦合劑對膜厚儀的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測物體之間的空氣,使超聲波能有效地穿入工件達到檢測目的。如果選擇種類或使用方法不當,將造成誤差或耦合標志閃爍,無法測量。因根據使用情況選擇合適的種類,當使用在光滑材料表面時,可以使用低粘度的耦合劑;當使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時,應使用粘度高的耦合劑。



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