詳細(xì)分享校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀

　校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀目的是為了確保安全生產(chǎn)過(guò)程用于監(jiān)視生產(chǎn)氣體中某種氣體體積濃度的儀器的準(zhǔn)確性，特質(zhì)定本自校規(guī)程?！　”疽?guī)程規(guī)定了紅外線氣體分析儀的技術(shù)要求，校準(zhǔn)設(shè)備，校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)結(jié)果的處理，本規(guī)程僅適用于具規(guī)定范圍內(nèi)的紅外線氣體分析儀的校準(zhǔn)。

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紅外線氣體分析儀的作用 

紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進(jìn)行的氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;I0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射度;K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);C--待分析組分的氣體濃度;L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出:通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。

紅外線氣體分析儀的介紹：

基于氣體對(duì)紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用國(guó)際上新的NDIR技術(shù)， 如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室,局部恒溫控制技術(shù)等，實(shí)現(xiàn)不同濃度、不同氣體 （SO2、NOX、CO2、CO、CH4等）的精度連續(xù)檢測(cè)。

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紅外氣體分析儀的原理是什么?

紅外線分析儀是基于被測(cè)介質(zhì)對(duì)紅外光有選擇性吸收而建立的一種分析方法,屬于分子吸收光譜分析法.使紅外線通過(guò)裝在一定長(zhǎng)度容器內(nèi)的被測(cè)氣體,然后通過(guò)測(cè)定通過(guò)氣體后的紅外線輻射強(qiáng)度來(lái)測(cè)量被測(cè)氣體濃度.

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