【廣告】
江蘇一六儀器 我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。
-樣品觀察系統(tǒng)高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
7計算機系統(tǒng)配置IBM計算機:1.6G奔騰IV處理器,256M內(nèi)存,1.44M軟驅(qū),40G硬盤,CD-ROM,鼠標(biāo),鍵盤,17寸彩顯,56K調(diào)制解調(diào)器?;萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。
8分析應(yīng)用軟件操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
X熒光鍍層測厚儀金屬成分含量的測定
在包含某種元素1的樣品中,照射一次X射線,就會產(chǎn)生元素1的熒光X射線,不過這個時候的熒光X射線的強度會隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。當(dāng)特征X射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離,產(chǎn)生若干電子-空穴對,其數(shù)量與光子的能量成正比。元素1的含量多,熒光X射線的強度就會變強。注意到這一點,如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光X射線強度,就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時候,可以在樣品中加入高純度的二氧化硅,作為參比樣,并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 X熒光測厚儀測試要求:
工作要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾。
5 Max功率 :330W
6 外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長x寬x高)
7 樣品倉尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長x寬x高)
8 儀器重量 :55kg
9 分析軟件EFP,可同時分析23層鍍層,24種元素,不同層有相同元素也可分析
10 軟件操作人性化封閉軟件,自動提示校正和步驟,避免操作錯誤
11 X射線裝置:W靶微聚焦加強型射線管
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
集成電路是國民經(jīng)濟首要突破的行業(yè),中國現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展,集成電路是基礎(chǔ)。能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。如果保證電路板生產(chǎn)的質(zhì)量,電鍍檢測重中之重!x射線熒光膜厚測厚儀為集成電路的發(fā)展,PCB線路板加工業(yè)的質(zhì)量保駕護航。價格一直是客戶在購買時關(guān)心的問題,好質(zhì)量和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價格上面往往比較高,所以客戶在選擇產(chǎn)品時選擇性價比高的就需要一定的了解,首先是品牌,其次是客戶調(diào)查,售后服務(wù)等。x射線熒光膜厚測厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測試,鍍錫測試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測厚,PCB線路板的鍍銀厚度分析。 的詳細信息x射線熒光膜厚測厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測試,鍍錫測試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測厚,PCB線路板的鍍銀厚度分析。
x射線熒光膜厚測厚儀已經(jīng)成為電力行業(yè),PCB行業(yè),首飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段,比傳統(tǒng)的電解法測厚儀具有更快的測試速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率。