耐電流參數(shù)測(cè)試儀

HCPT耐電流參數(shù)測(cè)試儀可以用于尋找PCB孔鏈導(dǎo)通可靠性測(cè)試樣品的HCT耐電流測(cè)試合適的電流參數(shù)。耐電流參數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下內(nèi)置室溫檢測(cè)儀器內(nèi)置室溫檢測(cè)，實(shí)時(shí)檢測(cè)室內(nèi)溫度，保證測(cè)試樣品溫度的準(zhǔn)確性。儀器采用高l精度的電源模塊和溫度以及電阻采集模塊，對(duì)PCB孔鏈測(cè)試樣品,自動(dòng)嘗試不同的電流,循環(huán)進(jìn)行升溫,保溫,冷卻的過程,并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)孔鏈的溫度，電流，以及電阻變化。直到找到合適的電流,PCB孔鏈樣品在此電流下，達(dá)到HCT測(cè)試要求。

HCPT耐電流參數(shù)測(cè)試儀也可以用于PCB孔鏈的HCT耐電流測(cè)試。

耐電流參數(shù)測(cè)試儀主要特點(diǎn)如下

內(nèi)置室溫檢測(cè)

儀器內(nèi)置室溫檢測(cè)，實(shí)時(shí)檢測(cè)室內(nèi)溫度，保證測(cè)試樣品溫度的準(zhǔn)確性。

●多種孔鏈測(cè)試條溫度測(cè)量方法選擇

孔鏈測(cè)試條的溫度測(cè)量可以采用通過電阻和溫度電阻系數(shù)計(jì)算得到，也可以采用熱電偶測(cè)量得到。

系統(tǒng)配置3通道K型熱電偶，可以設(shè)置任意通道熱電偶，或者3通道的Max值，Min值或Ave值作為孔鏈測(cè)試條的溫度。

●強(qiáng)制風(fēng)冷

測(cè)試恒溫完成后,可以選擇是否啟動(dòng)強(qiáng)制風(fēng)冷對(duì)樣品進(jìn)行強(qiáng)制冷卻。

雙面測(cè)試

對(duì)于測(cè)試樣品孔鏈為在電路板兩面對(duì)稱設(shè)計(jì)時(shí)，儀器可以使用雙面測(cè)試，即對(duì)兩面的兩個(gè)孔鏈同時(shí)施加測(cè)試電流，測(cè)試上表面孔鏈的溫度。

●初始電阻篩選

可以設(shè)定測(cè)試前初始電阻的上下限閥值，符合初始電阻要求的樣品才繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。

●測(cè)試過程數(shù)據(jù)曲線顯示

測(cè)試過程中，樣品的溫度，溫度變化速度，電阻，電流分別實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示。

數(shù)據(jù)曲線均可以雙擊放大進(jìn)行觀察分析。

HDI板盲孔互聯(lián)失效原因

除膠渣不凈　　

去環(huán)氧鉆污或除膠渣是盲孔電鍍個(gè)極為重要的流程，它對(duì)孔壁銅與內(nèi)層銅連接的可靠性起著至關(guān)重要的作用。因?yàn)橐粚颖”〉臉渲瑢涌赡軙?huì)使盲孔處于半導(dǎo)通狀態(tài)。●超溫保護(hù)儀器可以設(shè)定測(cè)試時(shí)測(cè)試樣品超過一定溫度時(shí)斷開測(cè)試電流，以對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行保護(hù)，十分方便用戶對(duì)缺陷測(cè)試樣品進(jìn)行失效分析，從而找到失效的根本原因。在E-TEST測(cè)試時(shí)由于測(cè)針壓力作用可能會(huì)通過測(cè)試，而板件裝配后就可能發(fā)生開路或接觸失靈等問題。然而以手機(jī)板為例，每拼板上大約有7~10萬個(gè)盲孔，除膠處理時(shí)難免偶有閃失。

　　由于目前各廠家的凹蝕藥l水體系都已經(jīng)很完善了，因此只有嚴(yán)密監(jiān)視槽液，在其即將出問題之前，當(dāng)機(jī)立斷更換槽液才能保證應(yīng)有的良率。