詳細(xì)分享校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀

　校準(zhǔn)紅外線氣體分析儀目的是為了確保安全生產(chǎn)過程用于監(jiān)視生產(chǎn)氣體中某種氣體體積濃度的儀器的準(zhǔn)確性，特質(zhì)定本自校規(guī)程?！　”疽?guī)程規(guī)定了紅外線氣體分析儀的技術(shù)要求，校準(zhǔn)設(shè)備，校準(zhǔn)方法和校準(zhǔn)結(jié)果的處理，本規(guī)程僅適用于具規(guī)定范圍內(nèi)的紅外線氣體分析儀的校準(zhǔn)。

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紅外線氣體分析儀用途及應(yīng)用范圍：

紅外線氣體分析儀器用于連續(xù)分析CO、CO2、SO2、CH4、NH3等多種氣體在混合物中的含量。該產(chǎn)品為全數(shù)字化處理，在指標(biāo)及功能上均有很大提高。產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，如：化工、石油、冶金等工業(yè)，也可應(yīng)用于環(huán)保、農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生等部門，還可用于科研、學(xué)校、實(shí)驗(yàn)室分析。

1．用于大氣及污染源排放檢測(cè)；

2．用于石油、化工、電站、鋼鐵、焦炭、水泥等工業(yè)過程控制；

3．用于農(nóng)業(yè)、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生和科研等領(lǐng)域等。

紅外線氣體分析儀的測(cè)量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測(cè)組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準(zhǔn)確檢測(cè)待測(cè)組分的濃度，可采取多種措施，如設(shè)置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進(jìn)入測(cè)量氣室或檢測(cè)器之前就被吸收掉，只讓待測(cè)組分特征吸收波帶的光通過。

　　水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產(chǎn)狀態(tài)的變化，預(yù)處理運(yùn)行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會(huì)使進(jìn)入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長(zhǎng)范圍內(nèi)幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當(dāng)兩者的吸收波帶重疊時(shí)，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來(lái)的測(cè)量誤差。因?yàn)檫@些措施對(duì)水分和被測(cè)組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會(huì)隨時(shí)變化，所以很難估計(jì)其對(duì)測(cè)量誤差的影響。減少或降低水分對(duì)待 測(cè)組分的干擾，目前的有效辦法是在預(yù)處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點(diǎn)。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。