大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

在相位差膜等光學(xué)膜中，要求有高透明性、低光彈性率、耐熱性、耐光性、高表面硬度、高機械強度、大相位差、相位差的波長依存性小，以及相位差的入射角依存性小等特性。以往，作為表現(xiàn)透明樹脂材料光學(xué)各向異性的方法，可以進行膜的拉伸配向。已知通過該拉伸配向，由聚甲i基丙i烯酸甲酯(P匿A)或聚乙烯(PS)所形成的膜顯示出負雙折射性，由聚^J吏酯(PC)或環(huán)烯烴類樹脂(COP)所形成的膜顯示出正雙折射性。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準sample。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。通過多折射位相差（RE.）來計算液晶封入后的液晶基板的cellgap值，測定精度高。