原子級顯微鏡可以說各有優(yōu)勢

不同的原子級顯微鏡可以說各有優(yōu)勢。老牌的SEM(Scanning Electron Microscope)可以獲得很多樣品信息，但能觀測到的半徑仍大于一些小半徑原子； 新式的STM(Scanning tunneling Microscope)此種顯微鏡的樣品便不限制成針狀，可用來看像的樣品范圍更大了；另外還有TEM(Transmission electron microscope)，雖然分辨率很高，但樣品要切成一片很薄的膜，技術上比較困難，而且會將樣品結構破壞，價錢亦較昂貴。雖說原子解析技術不再被FIM獨占，但目前能有與多的研究或實驗都需要靠FIM才能做，像是單獨原子，或單一原子團在特定的表面之原子運動過程。

手翻轉反光鏡使用方法_新聞中心

使用方法 1、取鏡與安放 將顯微鏡從鏡箱中取出時，應一只手握住鏡臂，另一只手托住鏡座；把顯微鏡放在實驗臺距邊緣大約7厘米處，安裝好目鏡和物鏡。 2、對光 轉動轉換器，使低倍鏡對準通光孔；用一個較大的光圈對準通光孔。一只眼睛注視目鏡內，用手翻轉反光鏡，使反射光經過通光孔、物鏡、鏡筒到達目鏡。以通過目鏡看到明亮的園形視野為宜。 3、觀察 將要觀察的玻片標本正面朝上放在載物臺上，用彈簧夾或移光器將玻片固定。將玻片中的標本對準通光孔的中心；轉動粗準焦螺旋，使鏡筒緩慢下降，直到物鏡接近玻片標本為止；一只眼睛向目鏡內看，同時逆時針方向旋轉粗準焦螺旋，使鏡筒緩慢上升，直到看清標本物像為止。再略微轉動細準焦螺旋，使看到的物像更加清晰。 從目鏡內看到的物象是倒像。

電子顯微鏡(scanningprobemicroscope)

現(xiàn)今的電子顯微鏡和掃描探針顯微鏡（scanning probe microscope，SPM）具有極高的分辨率，可以“看到”單個原子和化學鍵，這一尺度范圍大概為0.5埃（1埃 為0.1納米，等于10-10米）。以這種分辨率來觀察材料，如石墨烯、催化劑和氧化物等，能夠揭示這些材料的結構，以及晶體缺陷對材料性質的影響。