顯微鏡比對模式

顯微鏡比對模式： 1、 可將實時影像中的實際工件進行拍照（包含影像上所標注的尺寸及線條圖形），并可以JPEG格式儲存于計算機中，形成產(chǎn)品圖庫。 2、 可將存于圖庫中的JPEG圖檔打開，并與同一畫面中實時的影像相互比對。 注： 1、影像式金相測量顯微鏡可將以往用肉眼在傳統(tǒng)顯微鏡下所觀察之影像將其數(shù)字化并轉(zhuǎn)換至計算機中作各式的繪圖及測量，再可將所得到的數(shù)據(jù)及圖形數(shù)據(jù)儲存于計算機中，以便數(shù)據(jù)存盤及電子郵件發(fā)送。 2、適用于微型芯片電路檢測、PCB板或其它金屬鍍層厚度檢測，金屬表面結(jié)構(gòu)分析及其它高倍顯微檢測。用途：可供觀察和檢測各種PCB線路板、LCD液晶顯示板、金屬金相組織，研潤企業(yè)生產(chǎn)其舒適精致的鏡體機構(gòu)、輕松快捷的操作方式，是工礦企業(yè)工業(yè)光學檢測儀器及學校金相教學用儀器的；流線型、高穩(wěn)定性的鏡體設計，使用方便、功能齊全，適合在單偏光、正偏光及錐光下觀察礦物的晶體形狀、著色、干涉色等，并準確地鑒定各種礦物或其它晶體試樣薄片的光學性質(zhì)。.

無限遠光學系統(tǒng)的優(yōu)點是顯微鏡中的各種光學附件

無限遠光學系統(tǒng)的優(yōu)點是顯微鏡中的各種光學附件（如暗視場光束分離器、偏振光分離器、用于微差干涉襯度）的棱鏡、檢偏振鏡，以及其它附加濾色鏡等）都可以放置在物鏡凸緣與鏡簡透鏡之間平行光束的空間，由于成象光束沒有受到上述光學附件的干擾，物象的質(zhì)量不會受到損害，從而簡化了物鏡設計中色差和象差的校正。此外，在無限遠光學系統(tǒng)中，鏡筒長度系數(shù)保持為一，無論物鏡與目鏡之間的距離有多遠，也不需要一個固定的中轉(zhuǎn)透鏡系統(tǒng)。

長工作距離物鏡有些顯微鏡生產(chǎn)廠商

長工作距離物鏡 有些顯微鏡生產(chǎn)廠商還推出一些工作距離較長的物鏡，這是為了適應生產(chǎn)檢驗或特殊需要（例如高溫臺）而設計的。通常情況下，物鏡的放大倍數(shù)越高，工作距離（即物象聚焦時，物鏡接物透鏡與試樣之間的距離）越短，為了避免物鏡因工作中不慎觸及試樣或受熱而損壞，于是就設計了這種特殊物鏡。 浸蝕 拋光后的試樣在金相顯微鏡下觀察，只能看到光亮的磨面，如果有劃痕、水跡或材料中的非金屬夾雜物、石墨以及裂紋等也可以看出來，但是要分析金相組織還必須進行浸蝕。 浸蝕的方法有多種，的是化學浸蝕法，利用浸蝕劑對試樣的化學溶解和電化學浸蝕作用將組織顯露出來。 經(jīng)檢查后合格的試樣可以放在浸蝕劑中，拋光面朝上，不斷觀察表面顏色的變化。這是浸蝕法。也可以用沾有浸蝕劑的棉花輕輕擦拭拋光面，觀察表面顏色的變化。此為擦蝕法。待試樣表面被浸蝕得略顯灰暗時即刻取出，用流動水沖洗后在浸蝕面上滴些酒精，再用濾紙吸去過多的水和酒精，迅速用吹風機吹干，完成整個制備試樣的過程。

金相試樣制備過程及注意事項

金相試樣制備過程一般包括：取樣、粗磨、細磨、拋光和浸蝕五個步驟。 取樣 從需要檢測的金屬材料和零件上截取試樣稱為“取樣”。取樣的部位和磨面的選擇必須根據(jù)分析要求而定。截取方法有多種，對于軟材料可以用鋸、車、刨等方法;對于硬材料可以用砂輪切片機或線切割機等切割的方法，對于硬而脆的材料可以用錘擊的方法。無論用哪種方法都應注意，盡量避免和減輕因塑性變形或受熱引起的組織失真現(xiàn)象。試樣的尺寸并無統(tǒng)一規(guī)定，從便于握持和磨制角度考慮，一般直徑或邊長為15~20mm，高為12~18mm比較適宜。對那些尺寸過小、形狀不規(guī)則和需要保護邊緣的試樣，可以采取鑲嵌或機械夾持的辦法。 金相試樣的鑲嵌，是利用熱塑性塑料(如聚)，熱凝性塑料(如膠木粉)以及冷凝性塑料(如環(huán)氧樹脂 固化劑)作為填料進行的。前兩種屬于熱鑲填料，熱鑲必須在專用設備一鑲嵌機上進行。第三種屬于冷鑲填料。