芯片檢測(cè)顯微鏡的應(yīng)用特點(diǎn)

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集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免，隨著人們對(duì)芯片產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來(lái)越重要，通過(guò)芯片檢測(cè)顯微鏡對(duì)集成電路失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。

芯片檢測(cè)顯微鏡——機(jī)構(gòu)機(jī)械載物臺(tái)

芯片檢測(cè)顯微鏡的機(jī)械載物臺(tái)可在XY方向進(jìn)行平滑移動(dòng)。由于這種機(jī)構(gòu)是內(nèi)置式設(shè)計(jì)，而不是附加而不是附加的，因而X向?qū)к壊粫?huì)突出載物臺(tái)臺(tái)面，這種設(shè)計(jì)增大了載物臺(tái)上方的空間，使對(duì)標(biāo)本操作變得更方便、快捷，同時(shí)，載物臺(tái)在X軸的移動(dòng)也更加平滑和精密。載物臺(tái)表面光滑，使載玻片能夠更平滑、自如地移動(dòng)。

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芯片檢測(cè)顯微鏡——原理介紹

顯微鏡將圖像通過(guò)攝像系統(tǒng)，把微觀圖像轉(zhuǎn)換為視頻信號(hào)輸入到彩色電視機(jī)上進(jìn)行圖像顯示。若選購(gòu)配置彩色攝像機(jī)或攝影照相裝置，還可以進(jìn)行圖像記錄，便于資料長(zhǎng)久保存和隨時(shí)再現(xiàn)圖像。本產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)光、機(jī)、電、一體化，同時(shí)具有操作簡(jiǎn)單，使用方便之特點(diǎn)?？晒┒嗳擞^察、討論研究、分析。廣泛用于高等院校、研究院所、衛(wèi)生醫(yī)院機(jī)構(gòu)等作科研、教學(xué)之用。

老上光儀器廠以誠(chéng)信為首 ,服務(wù)至上為宗旨。公司生產(chǎn)、芯片檢測(cè)顯微鏡,公司擁有強(qiáng)大的團(tuán)隊(duì)和經(jīng)營(yíng)理念。想要了解更多信息，趕快撥打圖片上的熱線(xiàn)電話(huà)！