芯片檢測(cè)顯微鏡的原理

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芯片檢測(cè)顯微鏡是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進(jìn)的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、數(shù)碼成像技術(shù)結(jié)合在一起而開(kāi)發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品。既可人工觀察金相圖像,又可以在數(shù)碼相機(jī)上很方便地適時(shí)觀察金相圖像，并以數(shù)碼照片記錄下來(lái),從而對(duì)金相圖譜進(jìn)行分析,評(píng)級(jí)等,還可以數(shù)碼沖洗或打印出高像素金相照片。

芯片檢測(cè)顯微鏡的特點(diǎn)

以下內(nèi)容由老上光儀器廠為您提供，今天我們來(lái)分享芯片檢測(cè)顯微鏡的相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助！

1. 配置大視野目鏡和長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片)，視場(chǎng)大而清晰。

2. 配置大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)，能快速和慢速移動(dòng)。

3. 粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗動(dòng)松緊可調(diào)，帶鎖緊和限位裝置，微動(dòng)格值:2μm。

4. 可調(diào)亮度的鹵素?zé)簟?

5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進(jìn)行100%透光攝影。