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真空法氦質(zhì)譜檢漏
采用真空法檢漏時,需要利用輔助真空泵或檢漏儀對被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封室抽真空,采用氦罩或噴吹的方法在被檢產(chǎn)品外表面施氦氣,當被檢產(chǎn)品表面有漏孔時,氦氣就會通過漏孔進入被檢產(chǎn)品內(nèi)部,再進入氦質(zhì)譜檢漏儀,從而實現(xiàn)被檢產(chǎn)品泄漏量測量。按照施漏氣體方法的不同,又可以將真空法分為真空噴吹法和真空氦罩法。其中真空噴吹法采用噴槍的方式向被檢產(chǎn)品外表面噴吹氦氣,可以實現(xiàn)漏孔的; 真空氦罩法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產(chǎn)品全部罩起來,在罩內(nèi)充滿一定濃度的氦氣,可以實現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測量。如果采用低壓力的檢漏氣體充注試件,抽空也是特別重要的,因為試件中殘留的空氣將稀釋充注的檢漏氣體。
真空法的優(yōu)點是檢測靈敏度高,可以,能實現(xiàn)大容器或復(fù)雜結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢漏。
真空法的缺點是只能實現(xiàn)一個大氣壓差的漏率檢測,不能準確反映帶壓被檢產(chǎn)品的真實泄漏狀態(tài)。
真空法的檢測標準主要有QJ3123-2000《氦質(zhì)譜真空檢漏方法》、GB /T 15823-2009《氦泄漏檢驗》,主要應(yīng)用于真空密封性能要求,但不帶壓工作的產(chǎn)品,如空間活動部件、液氫槽車、環(huán)境模擬設(shè)備等。
真空壓力法氦質(zhì)譜檢漏
采用真空壓力法檢漏時,需要將被檢產(chǎn)品整體放入真空密封室內(nèi),真空密封室與輔助抽空系統(tǒng)和檢漏儀相連,被檢產(chǎn)品的充氣接口通過連接管道引出真空密封室后,再與氦氣源相連,當被檢產(chǎn)品表面有漏孔時,氦氣就會通過漏孔進入真空密封室,再進入氦質(zhì)譜檢漏儀,從而實現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測量。大漏孔的簡易測試方法是將試件抽空,在短時間內(nèi)觀察是否保持抽空壓強,如試件能保持抽空壓強,則表明它不存在任何大漏孔,可充注檢漏氣體。
真空壓力法的優(yōu)點是檢測靈敏度高,能實現(xiàn)任何工作壓力的漏率檢測,反映被檢件的真實泄漏狀態(tài)。
真空壓力法的缺點是檢漏系統(tǒng)復(fù)雜,需要根據(jù)被檢產(chǎn)品的容積和形狀設(shè)計真空密封室。這里需要說明在檢漏過程要求確保充氣管道接口無泄漏,或者采取特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計將所有充氣管道連接接口放置在真空密封室外部。
真空壓力法的檢測標準有GB /T 15823-2009《氦泄漏檢驗》,主要應(yīng)用于結(jié)構(gòu)簡單、壓力不是特別高的密封產(chǎn)品,如電磁閥、高壓充氣管道、推進劑貯箱、天線、應(yīng)答機、整星產(chǎn)品等。
正壓法檢漏
正壓法檢漏與負壓法檢漏相反,吸接在檢漏儀的檢測口,而被檢件充入規(guī)定壓力的示蹤氣體,漏孔泄漏出來氦氣被吸吸入檢漏儀被檢測。大型容器或內(nèi)部放氣管量很大的容器做負壓檢漏很不經(jīng)濟,而且檢漏速度慢,一般采取正壓檢漏。
這種正壓檢漏法應(yīng)注意事項:必須校準儀器的吸靈敏度,再向容器內(nèi)充入比一個大氣壓高的氦氣;第二有些容器是薄板結(jié)構(gòu),建議在容器外面做夾具防止高壓時變形損壞器件;正壓法的缺點是檢測靈敏度較低,檢測結(jié)果不確定度大,受測量環(huán)境條件影響大。第三吸沿焊縫移動時速度不要太快,離開表面1mm左右,以保證吸入靈敏度,將探頭做成喇叭口形效果更好。
壓氦法檢漏
壓氦法檢漏是將壓有一定壓力的示蹤氣體的被檢件放入檢漏夾具中,然后連至檢漏儀將其抽空,示蹤氣體通過漏孔泄漏出來,經(jīng)檢漏儀檢測總泄漏量。
一般小型電子器件宜采用這種檢漏方法。首先將儀器調(diào)整好,再將器件放入加壓罐內(nèi)壓入氦氣,氦氣進入有漏孔的器件內(nèi)部,無漏孔的器件只是表面吸咐氦氣。器件加壓壓力和時間根據(jù)GB2423,2328文件而定,器件從加壓罐中取出后將表面吸咐的氦氣吹掉再放入檢漏夾具中抽空,待真空抽至設(shè)定值后自動將夾具連至儀器的測量系統(tǒng)。這時壓入存在漏孔器件內(nèi)部的氦氣泄漏出來被檢測,其漏率在漏率表上顯示出來。試漏壓力與運行過程中受到的較大壓力相同許多密封件是在一定的壓力閾值下出現(xiàn)泄漏。
一般壓氦法檢漏時采用排除法。在夾具中放一定數(shù)量的器件,這一批的總漏率沒超過報廢預(yù)定值,說明這一批合格;總漏率超過報廢預(yù)定值可以取出一半,剩下的一半繼續(xù)檢漏,這一半合格說明有漏的器件在取出的那一半中,依此檢漏直至檢出有漏孔的器件。