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耐電流參數(shù)測試儀 High Current Parameter Tester HCT High current test耐電流測試儀
★HCT測試,High current test,耐電流測試,Current loading test
耐電流測試是測試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測試方法。耐電流測試是在特殊設(shè)計的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時,膨脹應(yīng)力會導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測出孔的互聯(lián)可靠性不良。耐電流參數(shù)測試儀●升溫速度設(shè)定測試中,可以設(shè)定樣品的升溫速度,以模擬不同的溫度變化對樣品的熱沖擊。
耐電流測試具有快速的特點。
耐電流測試具有直觀的特點。
耐電流測試具有全l面的特點,所有印制電路板在制板上均可以設(shè)置孔鏈。
耐電流參數(shù)測試儀
●升溫速度設(shè)定
測試中,可以設(shè)定樣品的升溫速度,以模擬不同的溫度變化對樣品的熱沖擊??梢栽O(shè)定的升溫速度:0.5℃/Sec--10℃/Sec。
●電流自動調(diào)節(jié)
測試時,儀器可以自動對測試電流進(jìn)行調(diào)節(jié),系統(tǒng)內(nèi)置測試電流調(diào)節(jié)算法,通過已測試的電流和溫度值的反饋,實時調(diào)整樣品加熱電流,使得樣品按照設(shè)定的升溫速度升溫,達(dá)到恒溫溫度后,使樣品保持在恒溫溫度。
過去雷射盲孔的檢測,是運(yùn)用肉眼或3D測量儀器進(jìn)行逐一檢測,這種方法非常消耗人力,辛苦且只能檢查到一小部分的孔,威太的雷射盲孔檢測儀可全l面檢測HDI及ABF板上的每一個孔,且健側(cè) 時間從數(shù)小時大幅度縮減至數(shù)十秒,不但可以測出不良盲孔,更可以精準(zhǔn)且詳細(xì)的統(tǒng)計報告,做為生產(chǎn)的監(jiān)控與改善。耐電壓測試儀在吸收、消化耐壓測試的基礎(chǔ)上,結(jié)合我國眾多用戶的實際使用情況加以提高、完善。
針對雷射鉆孔的需求,提供具成本與效益的檢查機(jī)量測解決方案。