FCT功能測(cè)試系統(tǒng)概述

功能測(cè)試（FT：Functional Test或FCT：Functional Circuit Test）指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：Unit Under Test）的提供模擬的運(yùn)行環(huán)境，加載合適的激勵(lì)或負(fù)載，使UUT工作于各種設(shè)計(jì)、工作狀態(tài)，從而獲取UUT點(diǎn)的輸出參數(shù)和響應(yīng)情況，進(jìn)行驗(yàn)證UUT的功能是否良好的測(cè)試方法，測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。在測(cè)試過程中壓板下壓時(shí)，如果壓板、載板、針板固定不佳，容易產(chǎn)生晃動(dòng)，從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形，進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移，使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損。

FCT測(cè)試系統(tǒng)接口

隨著自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測(cè)試正在逐漸被自動(dòng)測(cè)試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線的出現(xiàn)大大簡(jiǎn)化了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的開發(fā)復(fù)雜度，構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。但是UUT的類型還是復(fù)雜多樣的，尤其信號(hào)類型也千變?nèi)f化；無參考地單端測(cè)量電路無參考地單端測(cè)量系統(tǒng)(NRSE)中一端接模擬輸入通道，另一端接公用參考端，但這個(gè)參考端電壓相對(duì)于測(cè)量系統(tǒng)的地來說是不斷變化的。因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測(cè)試資源TR的測(cè)試接口ITA，是簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。

全自動(dòng)在線功能測(cè)試系統(tǒng)功能在線測(cè)試(ICT)：PCB開路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊（包括IC空焊）等。功能測(cè)試(FCT)：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定、圖形識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量以及控制、壓力測(cè)量控制、精密運(yùn)動(dòng)控制、FLASH、EEPROM在線燒錄等。FCT功能測(cè)試系統(tǒng)概述功能測(cè)試涉及負(fù)載、機(jī)構(gòu)、模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，通常要用不同的測(cè)試策略。