游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程

游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程如下：

現(xiàn)代測(cè)量?jī)r(jià)值的游標(biāo)卡尺一般認(rèn)為是由法國(guó)人約尼爾·比爾發(fā)明的。他是一名數(shù)學(xué)家，在他的專著《新四分圓的結(jié)構(gòu)、利用及特性》中記述了游標(biāo)卡尺的結(jié)構(gòu)和原理，而他的名字Vernier變成了英文的游標(biāo)一詞沿用至今。1851年由美國(guó)Brown & Sharpe 公司將Nonuth 及 Vernier 兩個(gè)構(gòu)想制造出支游標(biāo)卡尺，后由德國(guó)Masuer兵工廠加以改良制造，是工程上應(yīng)用廣的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游標(biāo)卡尺。1856年日本也普及了游標(biāo)卡尺，游標(biāo)卡尺的制造技術(shù)逐漸更新迅速提高，使之成為了通用性的長(zhǎng)度。19世紀(jì)中葉，美國(guó)機(jī)械工業(yè)快速發(fā)展，美國(guó)夏普機(jī)械有限公司創(chuàng)始人與1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游標(biāo)卡尺，其精度達(dá)到了0.001毫米。

外徑千分尺外觀的修理

首先用航空對(duì)外徑千分尺進(jìn)行清洗，清洗時(shí)要將測(cè)力裝置向上，避免污物隨流入測(cè)微螺桿。清洗干凈后觀察其外觀情況，千分尺及其校對(duì)用的量桿不應(yīng)有碰傷、銹蝕、帶磁或其他缺陷，刻線清晰、均勻。如果非工作面有銹蝕，可用金相砂紙去除。如果帶磁可用量具退磁器退磁。固定套管與微分筒的刻線模糊可用黑漆進(jìn)行修復(fù)。

當(dāng)弓形架變形后測(cè)桿工作面仍與測(cè)桿軸線垂直

當(dāng)碰撞或跌落造成弓形架變形而引起平行度超差時(shí)(判斷的方法是工作面的表面粗糙度、平面度很好，但用四個(gè)平行平晶檢平行度時(shí)四次的平行度都大大超差)，再用一般方法修復(fù)平行度就很費(fèi)時(shí)力了。我們知道，平行度合格的外徑千分尺其兩工作面均與測(cè)桿軸線垂直，當(dāng)弓形架變形后測(cè)桿工作面仍與測(cè)桿軸線垂直，但固定測(cè)砧的工作面則與測(cè)桿軸線不垂直了。因此，快速修復(fù)的途徑有兩種，種是用敲擊法(上下變形)或臺(tái)鉗(左右變形)校正變形的弓形架；第二種是調(diào)整固定測(cè)砧的位置，使其工作面與測(cè)桿軸線垂直。方法是固定測(cè)砧打出來，然后用圓銼把與其配合的孔略銼大些，使固定測(cè)砧能在孔內(nèi)上下左右進(jìn)行徑向偏擺調(diào)整，用任一平行平晶進(jìn)行平行度檢定，用手在徑向調(diào)整固定測(cè)砧位置，通過平行平晶觀察兩工作面的平行度，待調(diào)整至平行度合格后用膠水固定測(cè)砧即可。用本方法一般都能使平行度修復(fù)至2 微米以內(nèi)。如果由于用膠水固定時(shí)位置發(fā)生輕微變化導(dǎo)致平行度略微超差，則可將研磨器與測(cè)微螺桿工作面接觸的一面涂上潤(rùn)滑油，只在與固定測(cè)砧面接觸的一面涂研磨劑進(jìn)行研磨就可以很快修復(fù)。