我公司從事機關及企事業(yè)單位淘汰報廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件，廢電子元件回收，廢線路板回收蘇州電子芯片，蘇州回收手機排線，手機板回收，廢舊電容器回收，電解電容回收，蘇州電子元器件，蘇州顯示屏回收及綜合利用等。拆下的BGA器件一般情況可以重復使用，但必須進行植球處理后才能使用。

故障特點 /電子元器件

電器設備內部的電子元器件雖然數(shù)量，但其故障卻是有規(guī)律可循的。

半導體器件損壞特點

二、三極管的損壞是PN結擊穿或開路，其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn)：一是熱穩(wěn)定性變差，表現(xiàn)為開機時正常，工作一段時間后，發(fā)生軟擊穿；另一種是PN結的特性變差，用萬用表R×1k測，各PN結均正常，但上機后不能正常工作，用R×10或R×1低量程檔測，就會發(fā)現(xiàn)其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量，較準確的方法是：將萬用表置R×10或R×1檔（用R×10檔，不明顯時再用R×1檔）在路測二、三極管的PN結正、反向電阻，正向電阻不太大（正常值），反向電阻足夠大（正向值），表明該PN結正常，反之就值得懷疑，需焊下后再測。A用萬用表的歐姆擋測“1”、“2”兩端，其讀數(shù)應為電位器的標稱阻值，如萬用表的指針不動或阻值相差很多，則表明該電位器已損壞。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐，用萬用表低阻值檔在路測量，可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。

我公司從事機關及企事業(yè)單位淘汰報廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件，廢電子元件回收，廢線路板回收蘇州電子芯片，蘇州回收手機排線，手機板回收，廢舊電容器回收，電解電容回收，蘇州電子元器件，蘇州顯示屏回收及綜合利用等。④焊接點形狀相對于圓環(huán)的誤差(也稱為圓度)焊接點的圓度顯示焊料圍繞焊接點分布的勻稱情況，作為同一個園相比較，它反映與中心對準和潤濕的情況。

檢測方法/電子元器件

壓敏電阻的檢測。用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻，均為無窮大，否則，說明漏電流大。若所測電阻很小，說明壓敏電阻已損壞，不能使用。

我公司從事機關及企事業(yè)單位淘汰報廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件，廢電子元件回收，廢線路板回收蘇州電子芯片，蘇州回收手機排線，手機板回收，廢舊電容器回收，電解電容回收，蘇州電子元器件，蘇州顯示屏回收及綜合利用等。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時應注意以下幾點：ARt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時所測得的，所以用萬用表測量Rt時，亦應在環(huán)境溫度接近25℃時進行，以保證測試的可信度。

CBGA 封裝的缺點如下：1、由于陶瓷基板和 PCB 板的熱膨脹系數(shù)(CTE)相差較大，因此熱匹配性差，焊點疲勞是其主要的失效形式；2、與 PBGA 器件相比，封裝成本高；3、在封裝體邊緣的焊球對準難度增加。] 

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通過X射線分層法切片，在BGA焊接點處可以獲取如下四個基本的物理超試參數(shù)：①焊接點中心的位置焊接點中心在不同圖像切片中的相對位置，表明元器件在印刷電路扳焊盤上的定位情況。若測得的阻值為無窮大，則說明此熔斷電阻器已失效開路，若測得的阻值與標稱值相差甚遠，表明電阻變值，也不宜再使用。②焊接點半徑焊接點半徑測量表明在特定層面上焊接點中焊料的相應數(shù)量，在焊盤層的半徑測量表明在焊劑漏印(PasteScreening)工藝過程中以及因焊盤污染所產(chǎn)生的任何變化，在球層(ball level)的半徑測量表明跨越元器件或者印刷電路板的焊接點共面性問題。