電子顯微鏡,簡稱電鏡,英文名ElectronMicrosco

電子顯微鏡，簡稱電鏡，英文名Electron Microscope（簡稱EM），經(jīng)過五十多年的發(fā)展已成為現(xiàn)代科學技術(shù)中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡技術(shù)的應(yīng)用是建立在光學顯微鏡的基礎(chǔ)之上的，光學顯微鏡的分辨率為0.2μm，透射電子顯微鏡的分辨率為0.2nm，也就是說透射電子顯微鏡在光學顯微鏡的基礎(chǔ)上放大了1000倍。

人類科技的發(fā)展,總是伴隨著偶然和機遇

人類科技的發(fā)展，總是伴隨著偶然和機遇，人類歷偉大的發(fā)明之一——顯微鏡的出現(xiàn)也是如此。 在大約4000年前，古埃及人就從沙子里提煉出了玻璃，然而他們只拿它制造玻璃飾品，而并沒有擁有光學應(yīng)用方面。大約在公元前7世紀，早的放大鏡就出現(xiàn)了，人們發(fā)現(xiàn)可以用它借助太陽光點燃物品取火，但這些放大鏡的放大倍率相當有限。

SPM像掃描隧道顯微技術(shù)

SPM像掃描隧道顯微技術(shù)（scanning tunnelling microscopy）一樣，通過測量兩者之間的電流，或者像原子力顯微鏡一樣，通過測量兩者間微小的作用力，來獲取表面的結(jié)構(gòu)圖像。探針與材料表面的相互作用要受到基礎(chǔ)物理學定律的約束，這會限制SPM可達到的分辨率，盡管如此，新型低噪聲設(shè)備對表面原子的位移和鍵長變化的測量數(shù)值，誤差要小于10皮米（pm，1pm=10-12m）。