在線3D AOI VS7000核心技術(shù)及優(yōu)勢(shì)● 智能零基準(zhǔn)技術(shù)當(dāng)零基準(zhǔn)因?yàn)?PCB 板變形而落到焊盤(pán)或元件上后，會(huì)導(dǎo)致“拉尖”現(xiàn)象，使所有元件高度數(shù)據(jù)偏低，通過(guò)智能零基準(zhǔn)技術(shù)可有效解決零基準(zhǔn)偏移問(wèn)題。

雙面檢查AOI V5300 無(wú)人化終檢方案在ICT、FT后，進(jìn)行檢查。 ● 更多優(yōu)勢(shì)，智能化編程（一鍵校正、替代料、子母程序… ）；完全離線編程及實(shí)時(shí)調(diào)試；遠(yuǎn)程技術(shù)支持。然而，實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和系統(tǒng)化測(cè)試都表明，這些影響是可以通過(guò)PCB的設(shè)計(jì)來(lái)預(yù)防甚至減少的。

為客戶提供專業(yè)、及時(shí)的技術(shù)服務(wù)。憑著優(yōu)的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵。激光(Laser)光源是當(dāng)前的AXI檢測(cè)系統(tǒng)采用的光源,利用激光光源可以檢測(cè)出BGA封裝的內(nèi)部缺陷。

光學(xué)檢測(cè)基本優(yōu)化每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運(yùn)用適當(dāng) 的運(yùn)算法則來(lái)進(jìn)行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是：每個(gè)具有明顯對(duì)比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問(wèn)題是，當(dāng)一些檢查對(duì)象是 不可見(jiàn)的，或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來(lái)了。PCB板的范圍可從細(xì)間距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在線檢測(cè)方案，以提高生產(chǎn)效率，及焊接質(zhì)量。然而，實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和系統(tǒng)化測(cè)試都表明，這 些影響是可以通過(guò)PCB的設(shè)計(jì)來(lái)預(yù)防甚至減少的。為了推 動(dòng)這種優(yōu)化設(shè)計(jì)，可以運(yùn)用一些看上去很古老的附加手段（這些方法仍在很多領(lǐng)域被推崇）

AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。

AOI 四個(gè)檢測(cè)位置中, 錫膏印刷之后、 ( 片式 ) 器件貼放之后和元件貼放之后的檢測(cè)目的在于預(yù)防問(wèn)題,在這幾個(gè)位置檢測(cè), 能夠阻止缺陷的產(chǎn)生; 在回流焊接之后的檢測(cè), 則目的在于發(fā)現(xiàn)問(wèn)題。預(yù)防問(wèn)題 AOI放置在爐前, 發(fā)現(xiàn)問(wèn)題 AOI 放置在爐后。當(dāng)前來(lái)說(shuō), 爐前的 AOI 比爐后的 AOI 重要, 但爐后的檢查特別是焊點(diǎn)類不良的檢查是 AOI 的檢查的難點(diǎn), Teradyne 的Optima7000 系統(tǒng)就側(cè)重于爐后的檢測(cè)。■先進(jìn)的硬件架構(gòu)●大理石平臺(tái)及鑄造龍門(mén)保證設(shè)備穩(wěn)定性及多機(jī)共用程序一致性。更多的 AOI 都具有很大的彈性度, 安捷倫的 SJ50 與 SP50 ( 三維) 焊膏檢測(cè)系統(tǒng)使用統(tǒng)一化平臺(tái), 可以互換照明頭。 Omron和 Teradyne 的 AOI 都可以移到其它測(cè)試位置。

AOI隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高，自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用?；趯?duì)市場(chǎng)和客戶的深入了解，成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)（AOI）。

AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來(lái) 的問(wèn)題。但是，其中的一些變化需要花費(fèi)時(shí)間進(jìn)行處理， 因?yàn)槲覀儾荒茴A(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用，或 是存在一個(gè)錯(cuò)誤的元器件布局。不幸的是，這些選擇在日后對(duì)AOI或AXI檢查過(guò)程中造成的影響往往被忽圖2略了。同時(shí)，面對(duì)質(zhì)量方面的困 難，大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個(gè)一致的，確實(shí) 可行的說(shuō)明。