相位差光學材料量

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學材料量測設備,日本大塚電子；

FPD相關的檢查和評價設備：

動態(tài)畫面反應時間檢測儀：MPRT-2000,

相位差/光學材料量測設備：RETS-100,

發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

本軟件，通過自動制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動ＸＹ平臺來實施cellgap檢查每個樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動運輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。

 偏光計測模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強度pattern，因與以往的偏光計測裝置相比，其無偏光子回旋機構，故其可維持其的測定及穩(wěn)定的性能。用基準Sample實施設備，偏光prism unit的角度校正和基準Sample自身的Retardation測量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時進行。