在線測試，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級的測試方法用來測試裝配后的電路板上的每個元器件

EA—2在線測試設(shè)備為上下兩層可同時在線測試設(shè)備，主要由左右升降部分與上下測試部分而成。當(dāng)需要提高生產(chǎn)效率單層測試時間需要很長時，可使用雙層測試來實現(xiàn)，可提高生產(chǎn)率，降低等待測試時間。

檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測量，對二極管、三極管、光耦、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測試，對中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測試，如所有74系列、Memory 類、常用驅(qū)動類、交換類等IC。

ICT測試儀要求每一個電路節(jié)點(diǎn)至少有一個測試點(diǎn)。但隨著器件集成度增加，功能越來越強(qiáng)，封裝越來越小，SMT元件的增多，多層板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一個節(jié)點(diǎn)放一根探針變得很困難，為增加測試點(diǎn)，使制造費(fèi)用增加；同時為開發(fā)一個功能強(qiáng)大器件的測試庫變得困難，開發(fā)周期延長。

ICT測試要做到故障定位準(zhǔn)、測試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測試點(diǎn)。電路設(shè)計要做到各個器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計要安裝可測性要求。