本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測(cè)試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀特點(diǎn)：寬闊的波長(zhǎng)量測(cè)范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測(cè)范圍。(1nm~250μm)對(duì)應(yīng)顯微鏡下的微距量測(cè)口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

1）不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

     2）石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于液體樣品測(cè)試（3個(gè)）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     3）具有專用的液體容器定位裝置，可實(shí)現(xiàn)入射光垂直入射到容器表面。

半積分球。大塚電子獨(dú)有專利，提高積分球測(cè)試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨(dú)有專利，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對(duì)粉末和固體測(cè)試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨(dú)i家）；(3)光譜可擴(kuò)展, 光譜探測(cè)范圍可擴(kuò)展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級(jí)配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試（數(shù)量5個(gè)），尺寸直徑≤10mm

電腦裝有Windows XP Professional或Windows 7作為操作系統(tǒng)，考慮到網(wǎng)絡(luò)安全和病毒的防止，將安裝諾頓網(wǎng)絡(luò)安全特i警或諾頓反病毒軟件。本程序從安裝日開始計(jì)算，在連接網(wǎng)絡(luò)的情況下可維持1年的i新狀態(tài)。之后如要更新，請(qǐng)自行購買。

解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法

基板解析/里面反射補(bǔ)正/各類nk解析模型式

絕i對(duì)反射率/解析結(jié)果Fitting/折射率n的波長(zhǎng)相關(guān)性/消光系數(shù)k的波長(zhǎng)相關(guān)性

3D顯示功能（面內(nèi)膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖）