大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

近紅外光譜儀的優(yōu)勢(shì)

樣品一般不需要預(yù)處理且操作簡(jiǎn)單

由于近紅外光譜吸收強(qiáng)度弱，允許樣品有更大的測(cè)量厚度，它可以使光線深入到樣品中，樣品不用特別均勻，不需要使用化學(xué)試劑或高溫、高壓、大電流等測(cè)試條件，分析后不會(huì)產(chǎn)生化學(xué)、生物或電磁污染。且近紅外光譜儀的操作和維護(hù)簡(jiǎn)單，對(duì)操作員的素質(zhì)水平要求較低。通過(guò)軟件設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)極為簡(jiǎn)單的操作要求，在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中引入的人為誤差較小。靈活堅(jiān)固的光纖搭配多元的選配附件，可架設(shè)于生產(chǎn)線上、真空環(huán)境或嵌入于現(xiàn)有設(shè)備中即時(shí)性量測(cè)。

紫外吸收光譜有多種表示方法，圖形隨表示方法不同而異。有以logε作縱坐標(biāo)，波長(zhǎng)為橫坐標(biāo)；對(duì)于鋁、銅等各類有色金屬樣品而言，只需用小車床除去表面的氧化物即可。有橫坐標(biāo)為波數(shù)和頻率；有以波長(zhǎng)作橫坐標(biāo)，縱坐標(biāo)分別為摩爾消光系數(shù)ε，吸光度和百分透光率的。自動(dòng)分析儀描繪的曲線其縱坐標(biāo)為投射比T或吸光度A，此曲線高度隨溶液濃度而變，適用于定量分析。

各種因素對(duì)吸收譜帶的影響表現(xiàn)為譜帶位移、譜帶強(qiáng)度的變化、譜帶精細(xì)結(jié)構(gòu)的出現(xiàn)或消失等。譜帶位移包括藍(lán)移（或紫移，hypsochromic shift or blue shift))和紅移(bathochromic shift or red shift)。藍(lán)移（或紫移）指吸收峰向短波長(zhǎng)移動(dòng)，紅移指吸收峰向長(zhǎng)波長(zhǎng)移動(dòng)。吸收峰強(qiáng)度變化包括增色效應(yīng)(hyperchromic effect)和減色效應(yīng)(hypochromic effect)。前者指吸收強(qiáng)度增加，后者指吸收強(qiáng)度減小。近紅外光譜技術(shù)（NIR）是90年代以來(lái)發(fā)展最快、最引人注目的分析技術(shù)之一。各種因素對(duì)吸收譜帶的影響結(jié)果總結(jié)于右圖中。

AOI技術(shù)領(lǐng)域非常廣泛，廣義的AOI設(shè)備為結(jié)合光學(xué)傳感系統(tǒng)、訊號(hào)處理系統(tǒng)及分析軟件，應(yīng)用層面可包括宇宙探測(cè)、航空、衛(wèi)i星遙測(cè)、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)品質(zhì)檢測(cè)、指紋比對(duì)、機(jī)器人控制、多媒體技術(shù)。