蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

作為一款通用型測(cè)量工具，SPECTRUM沿襲了ZEISS成熟的測(cè)量設(shè)計(jì)理念，進(jìn)行合理的軟硬件搭配，造就了產(chǎn)品的質(zhì)量

重要特征：

1、超硬鋁制部件保證了整體橋架結(jié)構(gòu)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性

2、采用零膨脹玻璃陶瓷材料光柵尺，大大降低了溫度變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的不利影響

3、高度集成的動(dòng)態(tài)C99控制柜，保證了測(cè)量過(guò)程的穩(wěn)定

4、雙操縱桿數(shù)字式控制面板，人體工學(xué)設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)便，內(nèi)嵌LED顯示，信息豐富

接觸式測(cè)頭與光學(xué)測(cè)頭

近年來(lái)流行著一些帶有誤導(dǎo)性的宣傳，導(dǎo)致部分用戶對(duì)光學(xué)測(cè)頭有過(guò)高的期待，例如“用光學(xué)測(cè)頭一掃，零件的所有尺寸都出來(lái)了”等等，這對(duì)光學(xué)測(cè)頭實(shí)際上存在很大的誤解。從目前的狀態(tài)來(lái)說(shuō)，接觸式與光學(xué)測(cè)頭之間主要是相互補(bǔ)充的關(guān)系，而非競(jìng)爭(zhēng)。三維光學(xué)測(cè)頭有不同的分類，比如點(diǎn)光源、線光源、面光源，不同的測(cè)頭其應(yīng)用場(chǎng)合有顯著區(qū)別。我們將光學(xué)測(cè)頭的應(yīng)用大致分成兩類：表面數(shù)字化和三維測(cè)量。

接觸式測(cè)頭采點(diǎn)

非接觸式光學(xué)測(cè)頭直接利用光點(diǎn)的反射信號(hào)來(lái)獲取被測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)，不存在半徑補(bǔ)償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全余弦誤差產(chǎn)生的源頭。再者，在測(cè)量易變性零件時(shí)，雖然測(cè)力不大，但零件還是會(huì)在力的作用下造成一定變形(例如下圖中的薄葉片，測(cè)量頂部截面時(shí)，葉盆時(shí)葉片受到測(cè)力影響朝葉背方向彎曲，反之亦然)。雖然彎曲變形量不大，但是考慮到葉片本身極薄，其相對(duì)變形量還是非常可觀的，會(huì)對(duì)得出的輪廓度與位置度都造成非常大的影響。