電子產(chǎn)品的靜電放電測試及相關(guān)要求

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實驗實行：

實行部位：直接放電施加于利用職員正常使用受試裝備時大概打仗到的點或面上；間接放電施加于水平耦合板和垂直耦合板。

直接放電模擬了操縱職員對受試裝備直接打仗時發(fā)生的靜電放電情況。間接放電則是程度耦合板和垂直耦合板舉行放電，模仿了操作人員對放置于或安裝在受試設(shè)備附近的物體放電時的環(huán)境。

直接放電時，接觸放電為首情勢；只有在不能用接觸放電的地方（如外貌涂有絕緣層，盤算機鍵盤縫隙等情況）才改用氣隙（氛圍）放電。

間接放電：選用接觸放電方式。試驗電壓要由低到高徐徐增長到規(guī)定率。

差異的產(chǎn)物或產(chǎn)物族標(biāo)準(zhǔn)對試驗的實施大概根據(jù)產(chǎn)品的特點有規(guī)定的規(guī)定。

實行結(jié)果：若靜電放電測試通不外，可能產(chǎn)生如下效果：

1.直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的粉碎。

2.放電所引起的電場與磁場厘革，造成設(shè)備的誤動作。

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導(dǎo)致電快速脈沖試驗失敗的原因1

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電快速脈沖對裝備影響的緣故起因有三種，包括：

1.通過電源線直接傳導(dǎo)進裝備的電源，導(dǎo)致電路的電源線上有過大的噪聲電壓。

當(dāng)單獨對火線或零線注入時，只管是采取的對地的共模方式注入，但在火線和零線之間存在著差模干擾，這種差模電壓會出現(xiàn)在電源的直流輸出端。當(dāng)同時對火線和零線入注時，存在著共模干擾，但對電源的輸出端影響不大。

2.干擾能量在電源線上傳導(dǎo)的過程中，向空間輻射，這些輻射能量感應(yīng)到相近的信號電纜上，對信號電纜毗連的電路形成干擾。

3.干擾脈沖信號直接通過信號電纜進入設(shè)備電路或在電纜（包羅信號電纜和電源電纜）上傳輸時產(chǎn)生的二次輻射能量感應(yīng)進電路，對電路形成干擾。

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壓敏電阻的失效方式

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常見的壓敏電阻失效方式有如下幾種：

1.熱擊穿：因壓敏電阻的荷電率太高，已經(jīng)劣化，內(nèi)部勻稱性差汲取的脈沖能量過大等緣故起因，或造成它的發(fā)熱大于散熱，引起熱瓦解（或局部熱瓦解），最終造成薄缺點穿孔而擊穿。

2.閃絡(luò)：指外部施加的瞬態(tài)電場強度太高，或外部絕緣水平差，在強電場作用下，沿元件則表發(fā)生放電。

3.開裂：由于元件本身存在結(jié)構(gòu)應(yīng)力，在元件吸取大量能量時，因熱應(yīng)力作用而導(dǎo)致開裂。偶爾也有短路或開路情況發(fā)生。

4.炸裂：由于元件內(nèi)部存在嚴(yán)肅缺陷？（如雜質(zhì)，氣孔等）在元件吸收了很大的脈沖能量時，局部電流會集，強大的熱應(yīng)力使元件炸裂。通常伴有開路失效環(huán)境。

以上各種失敗，以短路失效較常見。

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