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光刻膠介紹
光刻膠介紹
光刻膠是一種對光線、溫度、濕度十分敏感的材料,可以在光照后發(fā)生化學性質(zhì)的改變,這是整個工藝的基礎(chǔ)。
光刻膠有不同的類型,PMMA(PMGI)以及DNQ(酚醛樹脂)等材料都可以做光刻膠。
目前光刻膠市場上的參與者多是來自于美國、日本、韓國等國家,包括 FUTURREX、陶氏化學、杜邦、富士膠片、信越化學、住友化學、LG化學等等,中國公司在光刻膠領(lǐng)域也缺少核心技術(shù)。
正負光刻膠
正負光刻膠
光刻膠分負性膠和正性膠兩類。光照后形成不可溶物質(zhì)的是負性膠;反之,對某些溶劑是不可溶的,經(jīng)光照后變成可溶物質(zhì)的即為正性膠。正膠的圖像與掩模板的圖像是一致的,故此叫正膠,利用這種性能,將光刻膠作涂層,就能在硅片表面刻蝕所需的電路圖形。
一般來說線寬的用正膠,線窄的用負膠! 正性光刻膠比負性的精度要高,負膠顯影后圖形有漲縮,負性膠限制在2~3μm.,而正性膠的分辨力優(yōu)于0.5μm 導致影響精度,正性膠則無這方面的影響。雖然使用更薄的膠層厚度可以改善負性膠的分辨率,但是薄負性膠會影響孔。首先光刻膠被從容器中取出滴布到置于涂膠機中的樣品表面,(由真空負壓將樣品固定在樣品臺上),樣品然后高速旋轉(zhuǎn),轉(zhuǎn)速由膠粘度和希望膠厚度確定。同種厚度的正負膠,在對于抗?jié)穹ê透g性方面負膠更勝一籌,正膠難以企及。賽米萊德提供美國Futurrex的光刻膠的供應與技術(shù)參數(shù)。
PCB穩(wěn)定
PCB被譽為'電子產(chǎn)品',廣泛應用于各個電子終端。2016年,全球PCB市場規(guī)模達542.1億美元。2010年到2015年期間,國際光刻膠市場年復合增長率約為5。國外研究機構(gòu)預測,PCB市場年復合增長率可達3%,到2020年,PCB全球市場規(guī)模將達到610億美元;中國在2020年P(guān)CB產(chǎn)值有望達到311億美元,在2015-2020年期間,年復合增長率略高于國際市場,為3.5%。得益于PCB行業(yè)發(fā)展剛需,我國PCB光刻膠需求空間巨大。
光刻膠去除
半導體器件制造技術(shù)中,通常利用光刻工藝將掩膜板上的掩膜圖形轉(zhuǎn)移到半導體結(jié)構(gòu)表面的光刻膠層中。通常光刻的基本工藝包括涂膠、曝光和顯影等步驟。
在現(xiàn)有技術(shù)中,去除光刻膠層的方法是利用等離子體干法去膠。將帶有光刻膠層的半導體結(jié)構(gòu)置于去膠機內(nèi),在射頻電壓的能量的作用下,灰化氣體被解離為等離子體。所述等離子體和光刻膠發(fā)生反應,從而將光刻膠層去除。
而在一些半導體器件設計時,考慮到器件性能要求,需要對特定區(qū)域進行離子注入,使其滿足各種器件不同功能的要求。光刻工藝的成本約為整個芯片制造工藝的35%,并且耗費時間約占整個芯片工藝的40%到50%。一部分閃存產(chǎn)品前段器件形成時,需要利用前面存儲單元cell區(qū)域的層多晶硅與光刻膠共同定義摻雜的區(qū)域,由于光刻膠是作為高濃度金屬摻雜時的阻擋層,在摻雜的過程中,光刻膠的外層吸附了一定濃度的金屬離子,這使得光刻膠外面形成一層堅硬的外殼。
這層堅硬的外殼可以采取兩種現(xiàn)有方法去除:方法一,采用濕法刻蝕,但這種工藝容易產(chǎn)生光刻膠殘留;方法二,先通過干法刻蝕去除硬光刻膠外殼,再采用傳統(tǒng)的干法刻蝕去光刻膠的方法去除剩余的光刻膠的方法,但是這種方式增加了一步工藝流程,浪費能源,而且降低了生產(chǎn)效率;同時,傳統(tǒng)的光刻膠干法刻蝕去除光刻膠時,光刻膠外面的外殼阻擋了光刻膠內(nèi)部的熱量的散發(fā),光刻膠內(nèi)部膨脹應力增大,導致層多晶硅倒塌的現(xiàn)象。目前,國外阻抗已達到15次方以上,而國內(nèi)企業(yè)只能做到10次方,滿足不了客戶工藝要求和產(chǎn)品升級的要求,有的工藝雖達標了,但批次穩(wěn)定性不好。