貴金屬分析儀的特點

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1. 操作簡便，測量時間短，不需要輔助材料，不需損毀樣品。

2. 全封閉式金屬機(jī)箱及防泄漏保護(hù)設(shè)計，更好地保障操作員的人身安全。

3. 國際的數(shù)據(jù)分析方法，使測量結(jié)果更加明確。

4. 打印機(jī)可連續(xù)打印測量報告。

5. 采用正比計數(shù)氣體探測器，接收面積大，計數(shù)率高，降低了測量中的離散型誤差。

6. 采用來自中科院高能物理研究所的信號處理器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和高壓發(fā)生器，具有很好的靈敏性、穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

7. 采用來自美國的高壓電源，配合原廠的數(shù)字控制板，穩(wěn)定性遠(yuǎn)高于國內(nèi)同類產(chǎn)品。

8. 我公司專業(yè)設(shè)計的光管保養(yǎng)程序，能有效延長光管壽命，降低用戶使用成本。

高分辨率圖譜即時顯示，由不同色塊加以判斷區(qū)分，清晰明了，易于判別。

儀器特點

1. 多點自動測量系統(tǒng)采用全自動數(shù)控精密位移樣品臺，配合我公司自主研發(fā)的專利軟件，操作簡單，可進(jìn)行多點連續(xù)測量及均勻度分析，節(jié)省時間，優(yōu)化工作流程，避免不均勻帶來的測量誤差。

2. 鼠標(biāo)控制，輕輕一點即可快捷、選取被測點，避免手動選取被測點的繁瑣操作及選點誤差。

3. 具備高含量精密分析模式?？蓪?9.9%（千足金）、99.99%進(jìn)行有效分析。

4. 采用來自美國的電制冷硅漂移（SDD）探測器，探測面積可達(dá)25mm2，遠(yuǎn)大于傳統(tǒng)的6mm2，分辨率可達(dá)125eV，遠(yuǎn)優(yōu)于國標(biāo)GB18043-2013。因此大大降低了元素間的干擾，可準(zhǔn)確檢測鉑金含銥、黃金含銥等復(fù)雜成分樣品，防止購回業(yè)務(wù)中產(chǎn)生誤判帶來經(jīng)濟(jì)損失。他同樣能給出金、銀、鉑、鈀等貴金屬及其雜質(zhì)的具體含量，只是由于分辨率的原因，在黃金含銥、黃金含鎢、鉑金含銥等方面比半導(dǎo)體探測器差一些，作為一般金銀首飾檢測還是足夠的。

期望大家在選購貴金屬分析儀時多一份細(xì)心，少一份浮躁，不要錯過細(xì)節(jié)疑問。想要了解更多貴金屬分析儀的相關(guān)資訊，歡迎撥打圖片上的熱線電話！！

光譜儀簡介

以下內(nèi)容由北京京國藝科技發(fā)展有限公司為您提供，今天我們來分享貴金屬分析儀的相關(guān)內(nèi)容，希望對同行業(yè)的朋友有所幫助！

X射線熒光光譜分析儀分為能量色散型X射線熒光光譜分析儀（EDXRF）和波長色散型X射線熒光光譜分析儀（WDXRF）。波長色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的波長特性，對X射線進(jìn)行分光，獲取各個光通道的計數(shù)，從而得到樣品的成分及含量。該設(shè)備優(yōu)勢是準(zhǔn)確度高，但是設(shè)備造價高，維護(hù)成本高，樣品需要前處理，操作相對復(fù)雜。能量色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的粒子特性，獲取特征光譜的能量和計數(shù)，從而得到樣品的成分及含量。該設(shè)備優(yōu)勢是造價低，維護(hù)成本低，樣品不需要前處理可直接測量，操作簡單，但精度低于波長色散型X射線熒光光譜分析儀。功能擴(kuò)展，除了可以檢測貴金屬外，還可以檢測鍍層、有害物質(zhì)及部分寶石。正是基于以上原理，貴金屬分析儀能夠快速檢測出貴金屬及其雜質(zhì)的成分及含量。

貴金屬分析儀的原理

北京京國藝科技發(fā)展有限公司——專業(yè)貴金屬分析儀供應(yīng)商，我們?yōu)槟鷰硪韵滦畔ⅰ?

當(dāng)光管燈絲通過電流，電子在高壓的作用下，脫離燈絲射向靶材。靶材受到電子轟擊，原子處于不穩(wěn)定態(tài)，當(dāng)原子狀態(tài)復(fù)位時產(chǎn)生X射線。X射線照射到樣品上，樣品受到X射線照射，原子被激發(fā)，產(chǎn)生特征X射線。因為每種原子的能量躍遷是固定的，所以特征X射線帶有樣品中各原子的能量特征。探測器接收到特征X射線，將能量轉(zhuǎn)化為電荷，收集放大轉(zhuǎn)化為電信號。經(jīng)多道處理器編譯為數(shù)字信號傳輸給計算機(jī)。4、測試軟件功能齊全，能完全替代傳統(tǒng)化驗室的各項手工書寫工作，并可根據(jù)各單位實際需求，任意設(shè)置檢測報告格式，并可輸入任意檢測條件查詢歷史數(shù)據(jù)。計算機(jī)分析這些信號，計算得出樣品所含元素及含量多少。