EMC測(cè)試介紹

EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時(shí)的性能。

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常見EMC測(cè)試項(xiàng)目

一、EMI:電磁干擾

（1）RE：輻射發(fā)射

（2）CE：傳導(dǎo)發(fā)射

（3）Harmonics：諧波電流

（4）Flicker：閃爍

二、EMS:電磁敏感度

（1）RS：輻射抗擾度

（2）CS：傳導(dǎo)抗擾度

（3）ESD：靜電抗擾度

（4）EFT/B：電快速瞬變脈沖群

（5）Surge：浪涌抗擾度

（6）PMS：工頻磁場(chǎng)抗擾度

（7）Dips：電壓跌落/短時(shí)中斷

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電磁兼容

電磁兼容是研究在有限的空間、時(shí)間、頻譜資源條件下，各種用電設(shè)備(廣 義還包括生物體)可以共存，并不致引起降級(jí)的一-門學(xué)科。它包括電磁干擾和電磁敏感度兩部分,電磁干擾測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生并向外發(fā)射的電磁波信號(hào)的大小來(lái)反應(yīng)對(duì)周圍電子設(shè)備干擾的強(qiáng)弱。電磁敏感度測(cè)試是測(cè)量被測(cè)設(shè)備對(duì)電磁騷擾的抗干擾的能力強(qiáng)弱。電磁干擾主要包括輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射。

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電磁兼容（electromagneticcompatibility）各種電氣或電子設(shè)備在電磁環(huán)境復(fù)雜的共同空間中，以規(guī)定的安全系數(shù)滿足設(shè)計(jì)要求的正常工作能力。也稱電磁兼容性。它的含義包括：①電子系統(tǒng)或設(shè)備之間在電磁環(huán)境中的相互兼顧；②電子系統(tǒng)或設(shè)備在自然界電磁環(huán)境中能按照設(shè)計(jì)要求正常工作。若再擴(kuò)展到電磁場(chǎng)對(duì)生態(tài)環(huán)境的影響，則又可把電磁兼容學(xué)科內(nèi)容稱作環(huán)境電磁學(xué)。

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