大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學(xué)材料量測(cè)設(shè)備,日本大塚電子；

FPD相關(guān)的檢查和評(píng)價(jià)設(shè)備：

動(dòng)態(tài)畫面反應(yīng)時(shí)間檢測(cè)儀：MPRT-2000,

相位差/光學(xué)材料量測(cè)設(shè)備：RETS-100,

發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

rets相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點(diǎn)：可更加精準(zhǔn)的量測(cè)低相位差(0.1nm～)適合作為評(píng)估相位差的波長(zhǎng)分散、自動(dòng)檢測(cè)配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測(cè)器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個(gè)波長(zhǎng)的相位差量測(cè)?？蛇x配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測(cè)平臺(tái)，評(píng)估三次元折射率參數(shù)分析等眼簾角特性。共同量測(cè)樣品，從容架構(gòu)量測(cè)平臺(tái)。

 偏光計(jì)測(cè)模組是用CCD camera的1shot來獲取多角度的偏光強(qiáng)度pattern，因與以往的偏光計(jì)測(cè)裝置相比，其無偏光子回旋機(jī)構(gòu)，故其可維持其的測(cè)定及穩(wěn)定的性能。用基準(zhǔn)Sample實(shí)施設(shè)備，偏光prism unit的角度校正和基準(zhǔn)Sample自身的Retardation測(cè)量。此外，反射用偏光子的角度校正可同時(shí)進(jìn)行。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計(jì)測(cè)模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進(jìn)行測(cè)定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測(cè)定，進(jìn)而演算其吸收軸，光軸，相對(duì)角、RE的裝置。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測(cè)光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測(cè)量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動(dòng)XY-stage以及自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí)，自動(dòng)set基準(zhǔn)sample。