美國SciAps Inc.在便攜式光譜領域占據(jù)較高地位，創(chuàng)造了較大價值。目前在美國成功發(fā)布第五代便攜式XRF、X系列分析儀，小型，輕便，速度快(2秒)，以其操作簡單，快速識別，技術較先進等優(yōu)點迅速受到廣大客戶認可、并經(jīng)過多品牌性能評估多層級帥選比較，成功入圍美國各大石油公司及其檢測單位采購名錄。與手持xrf相比，一定程度上擺脫了對易損的硅pin或硅漂移探測器的依賴。

◆低合金中碳和合金元素對合金的焊接性的影響是不同的,碳的影響大,其他合金元素可以折合成碳的影響來估算被焊材料的焊接性,換算后的總和稱為碳當量。

天津市聯(lián)創(chuàng)蔚萊科技發(fā)展有限公司與德國斯派克(SPECTRO)、美國賽普司(SciAps)、無錫創(chuàng)想，貴陽新天等企業(yè)密切合作。公司設有200平米的理化試驗儀器展示體驗中心，光譜儀、試驗機、長度測量、硬度計、金相制樣設備等國內(nèi)外近百臺儀器樣機供用戶體驗，相信通過我們的真誠的服務能給您帶來直接的經(jīng)濟效益。鍍層厚度分析選配鍍層模式,就可以用X系列分析儀測出金屬鍍層的厚度。

模式、元素、測量基體、牌號

模式lloy C 的曲線、元素、機體、牌號

◆不銹鋼C含量檢測分析曲線:C、Si、AI、Tl、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、Se、W

◆鐵基合金C含量檢測分析曲線:C、Si、Al、Ti、V、Cr、Mn、(不同含量Fe). Co, Ni, Cu、Nb、Mo、W、Pb.

◆測量機體:包含但不限于碳鋼、低碳鋼、高碳鋼、鋁合金、低合金鋼、不銹鋼、鑄鐵.等項目。

◆標準庫中有標準合號達500多種,用戶可自定義符合要求的非標牌號可達幾百種。

美國SciAps Inc.(賽普司)始于1998年，總部位于美國波士頓，是較早專注于便捷式元素分析光譜研發(fā)的高新技術企業(yè)。是聯(lián)合國核查組織認可的技術享有者之一，經(jīng)過二十年的積累，已成為從事全產(chǎn)品線手特光譜分析設備的研究機構(gòu)。

模式、元素◆Alloy: Mg、Al、 Si、 P、S、Ti、V、Cr、 Mn、Fe、 Co、Ni、Cu、Zn、Zr、Nb、Mo、Rh、 Pd、Ag、Cd、Sn、Sb、Hf、Ta、Pt、 Au、 Pb、Bi、 Se、W、Ru等元素。

Sciaps便攜式XRF合金分析儀的特點

天津市聯(lián)創(chuàng)蔚萊科技發(fā)展有限公司，坐落于陳塘國家自主創(chuàng)新示范區(qū)。以南京理工大學北方研究院為載體，立足天津，輻射周邊，通過創(chuàng)新的合作共贏模式，匯聚了國內(nèi)外理化儀器的生產(chǎn)企業(yè)。

X-50是較具性價比的“經(jīng)典款”手持式XRF分析儀。 X-50采用了PIN二級管技術，這是硅漂移探測器出現(xiàn)之前的上一代探測器。技術處理的X射線率比硅漂移探測器低10-20倍，分辨率比硅漂移探測器低100 eV（更寬）