直讀光譜儀中小試樣分析的硬件需求

在材質(zhì)分析中，直讀光譜儀以其、快捷、準(zhǔn)確性高等特性正在逐步的取代傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法，但分析材質(zhì)中的小試樣分析一直是個(gè)難點(diǎn)。

困難在于硬件和軟件兩個(gè)方面。東方分析儀器有限公司的分析程序無論是算法還是結(jié)構(gòu)都早已攻克了軟件困難。今天主要討論一下硬件方面。

光電直讀光譜儀分析試樣有基本要求，試樣與激發(fā)臺(tái)的接觸面應(yīng)為大于激發(fā)孔的平面。因此許多小尺寸的試樣不能直接在光譜儀上測(cè)定。我公司針對(duì)這一問題采用了兩種方案來解決。

1、氮化硼片輔助測(cè)量

氮化硼片如下圖所示，形狀為一圓環(huán)，厚度1mm，內(nèi)徑為4~6mm，氮化硼片的增加有效的減小了激發(fā)孔外徑，因此對(duì)于試樣直徑在6mm以下的試樣可以用氮化硼片輔助進(jìn)行測(cè)量。

1、小試樣夾具輔助測(cè)量

用夾具將試樣夾住，通過定位孔將試樣放置于與電極相對(duì)的位置，進(jìn)行測(cè)量，試樣要磨平頂端激發(fā)處。小試樣夾具可輔助測(cè)量直徑在5mm-11mm的試樣。

影響直讀光譜儀分析質(zhì)量的因素

控制試樣       

在實(shí)際工作中，由于試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品的冶金過程和某些物理狀態(tài)的差異，常常使工作曲線發(fā)生變化，通常標(biāo)準(zhǔn)樣品多為鍛造和軋制狀態(tài)，而日常分析為澆鑄狀態(tài)。為了避免試樣因冶金狀態(tài)變化給分析結(jié)果帶影響，常常應(yīng)使用一個(gè)與分析試樣冶金狀態(tài)和物理狀態(tài)都一樣的控樣，來控制分析結(jié)果，控樣的元素含量應(yīng)位于工作曲線含量范圍內(nèi)，并與分析試樣的含量越接近越好。同一批產(chǎn)品當(dāng)中，一件產(chǎn)品的品質(zhì)，跟另外一件產(chǎn)品品質(zhì)之間的差距不能大，而且差距越小越好。同時(shí)，控制樣品的元素含量應(yīng)當(dāng)準(zhǔn)確可靠，成份分布均勻，外觀無氣孔、砂眼、裂紋等物理缺陷。

直讀光譜儀常見的問題及解決方案

我想請(qǐng)教銅中做C，S的條件，是什么，坩堝里要放純鐵嗎？如果用鋼標(biāo)做標(biāo)樣行嗎?

(1) 不用純鐵,能夠熔的很好.較好用和分析樣品一致的標(biāo)樣.

(2) 不需要助熔劑了，銅燃燒很好的。手提光譜和直讀光譜有什么不同?

(1) 手體光譜一般為CCD檢測(cè)器，全譜直讀，靈敏度重現(xiàn)性比較差。但使用方便，價(jià)錢便宜。

(2) 臺(tái)式直讀光譜因?yàn)槭褂玫沫h(huán)境比便攜式光譜要穩(wěn)定，所以臺(tái)式光譜的重復(fù)性要好，光譜儀對(duì)環(huán)境的要求一般都是很高的。我們現(xiàn)在想用直讀光譜做煉鋼生鐵,可是S怎么總是不太準(zhǔn)確?

一般來說，測(cè)量鋼鐵中的C、S,準(zhǔn)確測(cè)量的話，主要采用化學(xué)方法或碳硫分析儀來做，有些型號(hào)光譜儀做到可以測(cè)量C、S,但是實(shí)際運(yùn)行時(shí)，需要提高很大的成本，反倒得不償失，勉強(qiáng)做出來了，還不如用普通的化學(xué)方法或碳硫分析儀做的好。

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