介紹一下手持式光譜儀的應(yīng)用及原理

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手持式光譜儀道理手持式光譜儀是一哪類基于XRF光譜分析技巧的光譜分析儀器,當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線以及原子產(chǎn)生碰撞時,驅(qū)趕每個內(nèi)層電子從而出列每個空穴,使全部原子體制處于不安定的形態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,形成一次光電子,擊出的光子或許再次被攝取而逐出較外層的另每個次級光電子,產(chǎn)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng).所逐出的次級光電子稱為俄歇電子.     

當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所開釋的能量不被原子內(nèi)攝取,而因此光子方式發(fā)出,便形成X 射線熒光,其能量相等兩能級之間的能量差.所以,射線熒光的能量或波長是特征性的,以及元素有一一對應(yīng)的關(guān)連.由Moseley定律可知,只有測出熒光X射線的波長,就不妨?xí)缘迷氐钠纺念?這便是熒光X射線定性分析的底子.     

其余,熒光X射線的強(qiáng)度以及相對元素的含量有必需的關(guān)連,據(jù)此,不妨正在元素定量分析.X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光旗號交替成易于丈量的電旗號來獲得待測元素的特征消息。

怎么樣才能買到適合自己的手持式光譜儀

一、穩(wěn)定性,解析儀器要緊的便是穩(wěn)定性,ICP在每次解析前都要進(jìn)標(biāo)樣,因此勘測真相通常以及真值過失都不打,環(huán)節(jié)是同類樣品可否在每次解析出來以后真相可否一概,假如忽高忽低你曉得哪個樣品是及格的.     

二、解析速率,假如是全譜的機(jī)械,通常72個元素/分鐘,假如是掃描型的,速率要慢.當(dāng)前除外一些特別行業(yè)還在用掃描型的,其它的都是全譜了.不是說掃描型欠好,只是技巧對比破舊,簡單被淘汰.

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手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源分析

手持式光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高，但測定試樣中元素含量時，所得結(jié)果與真實含量通常不一致，存在一定誤差，并且受諸多因素的影響，有的材料本身含量就很低。

手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有：

(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。

(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。

(4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。

(5)要消除系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，就需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結(jié)果。

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光譜儀的維修原則

“先外后內(nèi)”，先檢查儀器外圍設(shè)施， 再檢查儀器本身。

儀器突然整機(jī)停電不工作了，首先檢查儀器的外圍情況，如冷卻水是否中斷，水泵或水閘閥是否異常,燃?xì)饣蜉o助氣氣壓是否偏低或過高，電磁閥是否失電或斷路，電=開關(guān)或空氣開關(guān)是否跳閘，各外部接插件是否脫落等。然后再尋找儀器本身內(nèi)部的問題。

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