一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測(cè)厚儀可調(diào)整測(cè)量位置，非常敏捷快速。或是測(cè)量位置已完成登陸時(shí)，可連續(xù)自動(dòng)測(cè)定，利用座標(biāo)補(bǔ)正、連結(jié)頻道，來應(yīng)付各種測(cè)量軌跡。亦可用自動(dòng)測(cè)定來作標(biāo)準(zhǔn)片校正。

　　測(cè)定部顯示盡像的表示：X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準(zhǔn)儀照射測(cè)定物的位置，可由倍率率更機(jī)能來實(shí)現(xiàn)盡面上測(cè)出物放大。。。

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測(cè)厚儀

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案

X射線熒光光譜測(cè)厚儀操作流程:

1.打開儀器電源 開關(guān)

2.打開測(cè)試軟件

3.聯(lián)機(jī)

4.打開儀器高壓鑰匙，觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右

5.待機(jī)30分鐘

6.打開測(cè)試腔放入標(biāo)準(zhǔn)元素片Ag，通過調(diào)整移動(dòng)平臺(tái)滑軌和焦距旋鈕使軟件測(cè)試畫面清晰

7.點(diǎn)擊峰位校正圖標(biāo)按照提示進(jìn)行操作

8.根據(jù)已知樣品信息新建（或選擇）合適的產(chǎn)品程式

9.點(diǎn)擊資料圖標(biāo)，根據(jù)客戶需求調(diào)整相關(guān)測(cè)量參數(shù)

10.放置樣品：打開測(cè)試腔，將樣品需要測(cè)試的一面大致朝向測(cè)試窗，邊觀察軟件測(cè)試畫面邊通過移動(dòng)平臺(tái)滑軌微調(diào)測(cè)試位置

進(jìn)而達(dá)到測(cè)試要求位置

11.調(diào)整焦距：使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕，使得軟件測(cè)試畫面盡可能清晰

12.開始測(cè)量：點(diǎn)擊開始測(cè)試圖標(biāo)，進(jìn)行樣品測(cè)試或者按動(dòng)儀器前面板測(cè)試按鈕進(jìn)行樣品測(cè)試

13.數(shù)據(jù)報(bào)告：對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比和分析，判斷數(shù)據(jù)是否正常，若出現(xiàn)異常可進(jìn)行多次測(cè)量排除偶然誤差

14.生成報(bào)告：點(diǎn)擊預(yù)覽報(bào)告可以對(duì)測(cè)試報(bào)告內(nèi)容和格式進(jìn)行調(diào)整，還可以電子版保存報(bào)告和直接打印紙質(zhì)報(bào)告

15.整理反饋：對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和整理，可通過給出測(cè)試報(bào)告的形式與客戶進(jìn)行溝通和反饋