2：溫度的影響

  材料的聲速會(huì)隨著材料溫度的變化而發(fā)生變化。如果儀器的校準(zhǔn)是在溫度相對(duì)較低的環(huán)境中進(jìn)行的，而儀器的使用卻在溫度相對(duì)較高的環(huán)境中，這種情況下就會(huì)使檢測(cè)結(jié)果偏離真實(shí)值。要避免溫度的這種影響，方法是校準(zhǔn)儀器時(shí)用高溫探頭來(lái)處理。

表面粗糙度的影響

  被測(cè)件的表面粗糙程度對(duì)測(cè)厚儀有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。

4：附著物質(zhì)的影響

  測(cè)厚前必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器探頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

：磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾測(cè)厚工作。

核心技術(shù)分析  

多層膜、膜成分、基材成分檢測(cè)。

下照式機(jī)頭光管及探測(cè)器，攝像頭的光路結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)的運(yùn)動(dòng)；

軟件實(shí)現(xiàn)圖像變形的修正及控制平臺(tái)的準(zhǔn)確選點(diǎn)運(yùn)動(dòng)。

單點(diǎn)或多點(diǎn)矩陣檢測(cè)

目前此行業(yè)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)樣品極為稀缺，華唯獨(dú)有的FP算法無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即可對(duì)樣品進(jìn)行分析，幫助客戶徹底擺脫對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的高度依賴。

磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀圖片(4張)磁鐵（測(cè)頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源，測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn)，價(jià)格也較低，很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。


c 基體金屬厚度每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。d 邊緣效應(yīng)本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。e 曲率試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。