復(fù)合式顯微鏡1611年

復(fù)合式顯微鏡 1611年，Kepler(克卜勒)制作了復(fù)合式顯微鏡。這架顯微鏡的放大倍數(shù)也不高，約10~30倍。但這一成就成為技術(shù)把光學(xué)放大裝置提高到顯微鏡水平的標(biāo)志。 顯微鏡放大倍數(shù)的增加 1665年，英國(guó)科學(xué)家R.Hooke制作了架有科學(xué)研究使用價(jià)值的顯微鏡，它的放大倍數(shù)為40~140倍。R.Hooke用這架顯微鏡發(fā)現(xiàn)了細(xì)胞，其實(shí)，“細(xì)胞”一詞的由來便是R.Hooke用復(fù)合式顯微鏡觀察軟木木栓組織上的微小氣孔而得來的。 1674年，A·V·Leeuwenhoek利用自制的顯微鏡發(fā)現(xiàn)了前人所未曾見到過的一些，人類自此開始了對(duì)原生動(dòng)物學(xué)的研究。九年后A·V·Leeuwenhoek又成為首位發(fā)現(xiàn)“細(xì)菌”的人。 他一生親手磨制了550個(gè)透鏡，裝配了247架顯微鏡，至今保存下來的還有9架。A·V·Leeuwenhoek使用的顯微鏡放大倍數(shù)為500倍，分辨率可達(dá)到1.0 μm。

帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡SEM

掃描電子顯微鏡 　　掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM）放大倍數(shù)（不同型號(hào)有差異）約2~200000，連續(xù)可調(diào)，分辨率可達(dá)幾納米。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 　　SEM 主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)【當(dāng)一束極細(xì)的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng)（聲子)、電子振蕩（等離子體）】，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。 　　二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。

SPM像掃描隧道顯微技術(shù)

SPM像掃描隧道顯微技術(shù)（scanning tunnelling microscopy）一樣，通過測(cè)量?jī)烧咧g的電流，或者像原子力顯微鏡一樣，通過測(cè)量?jī)烧唛g微小的作用力，來獲取表面的結(jié)構(gòu)圖像。探針與材料表面的相互作用要受到基礎(chǔ)物理學(xué)定律的約束，這會(huì)限制SPM可達(dá)到的分辨率，盡管如此，新型低噪聲設(shè)備對(duì)表面原子的位移和鍵長(zhǎng)變化的測(cè)量數(shù)值，誤差要小于10皮米（pm，1pm=10-12m）。