廣州景頤光電科技有限公司是全球的光學(xué)光電檢測(cè)儀器行業(yè)公司，專業(yè)服務(wù)于照明電器、LED行業(yè)、化學(xué)、環(huán)保、生物、水質(zhì)分析及新能源等領(lǐng)域，提供行業(yè)咨詢、產(chǎn)品銷售、售后服務(wù)和風(fēng)險(xiǎn)控制。

全光譜透過(guò)率檢測(cè)儀采用先進(jìn)的光譜測(cè)量技術(shù)，是目前市場(chǎng)上性價(jià)比高的透過(guò)率專用檢測(cè)儀器。適用于各種光學(xué)元件、平面玻璃、濾光片、IR油墨孔鍍膜鏡片、顯示屏、手機(jī)屏、觸摸面板、塑料、硅膠材料等產(chǎn)品透過(guò)率測(cè)量。

透光率檢測(cè)儀

無(wú)論是透明薄膜還是吸收薄膜,薄膜還是厚膜,介質(zhì)薄膜還是半一導(dǎo)體薄膜,晶態(tài)薄膜T還是非晶態(tài)薄膜,固體薄膜、液體薄膜還是氣體薄膜等等,只要能很方便地測(cè)出它們的透射光譜,就能采用透射光譜法來(lái)測(cè)量它們的參數(shù)。但對(duì)一些反射率很大的薄膜(如金屬薄入(nm)膜等)就不宜采用透射光譜法。太陽(yáng)片透過(guò)率計(jì)

在用透射光譜法測(cè)量薄膜參數(shù)中,的情況就是測(cè)沉積在透明基底上的透明薄膜,即在所測(cè)的光譜范圍內(nèi)薄膜的吸收可以忽略,消光系數(shù)k=20。太陽(yáng)片透過(guò)率計(jì)

若薄膜的吸收系數(shù)很大,則膜不能太厚,否則透射率太小;基底一般是透明的。若存在吸收,則吸收系數(shù)不能很大,否則透射率也會(huì)太小(因基底很厚)。太陽(yáng)片透過(guò)率計(jì)

在眾多的薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)的測(cè)量方法中,透射光譜法由于測(cè)量范圍廣、精度高、測(cè)試簡(jiǎn)單、測(cè)量條件的非苛刻性、非接觸性、可同時(shí)確定薄膜光學(xué)常數(shù)和厚度等突出優(yōu)點(diǎn)而得到廣泛采用。因此,本文采用透射光譜法來(lái)確定薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。太陽(yáng)片透過(guò)率計(jì)

光譜法又分反射光譜法和透射光譜法。反射光譜法和透射光譜法都是用分光光度計(jì)測(cè)出光在垂直入射條件下(也有用斜入射光的,但一般用垂直入射光,因?yàn)榇藭r(shí)可不必考慮光的偏振態(tài))的反射或透射光譜曲線太陽(yáng)片透過(guò)率計(jì)