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工藝的發(fā)展主要體現(xiàn)在:2.隨著器件底部陣列化球型引腳形式的普及,與之相應(yīng)的組裝工藝及檢測,返修技術(shù)已趨向成熟,同時仍在不斷完善之中;3.為適應(yīng)綠色組裝的發(fā)展和無鉛焊等新型組裝材料投入使用后的組裝工藝要求,相關(guān)工藝技術(shù)研究正在進行當(dāng)中;4.為適應(yīng)多品種,小批量生產(chǎn)和產(chǎn)品快速更新的組裝要求,組裝工序快速重組技術(shù),組裝工藝優(yōu)化技術(shù),組裝設(shè)計制造一體化技術(shù)正在不斷提出和正在進行研究當(dāng)中;5.為適應(yīng)高密度組裝,三維立體組裝的組裝工藝技術(shù),是今后一個時期內(nèi)需要研究的主要內(nèi)容;6.要嚴格安裝方位,精度要求等特殊組裝要求的表面組裝工藝技術(shù),也是今后一個時期內(nèi)需要研究的內(nèi)容,如機電系統(tǒng)的表面組裝等。
SMT自動檢測方法:元件測試、PCB光板測試、自動光學(xué)測試、SMT在線測試、非向量測試以及功能測試。一、連接性測試:1.人工目測檢驗(加輔助放大鏡):IPC-A-610B焊點驗收標準基本上以目測為主。(1)優(yōu)良的外觀:潤濕程度良好;焊料在焊點表面鋪展均勻連續(xù)邊沿接觸角一般應(yīng)<30,(2)對于焊盤邊緣的焊點,應(yīng)見到變月面;焊點處的焊料層要適中,避免過多過少;焊點位置必須準確;焊點表面應(yīng)連續(xù)和圓滑。(3)主要缺陷:橋連/橋接-短路;立碑,吊橋、曼哈頓和墓碑片式阻容元件;錯位-元件位置移動出現(xiàn)開路狀態(tài);焊膏未熔化;吸料/芯吸現(xiàn)象-QFP、SOIC。
5.AOI 的基本算法:(1). 亮度(BRIGHT)(2). 暗度(DARK)(3). 對比度(CONTRAST)(4). 無對比度(NO CONTRAST)(5). 水平線(HORIZonTAL LINE)(6). 無水平線(7). 垂直線(VERTICAL LINE)(8). 無垂直線(9). 亮度百分比(PERCENT WHITE)和暗百分比(PERCENTBLACK)激光/紅外線組合式檢測系統(tǒng)原理:通過激光光束對被測物進行照射,利用熱容量的大小所產(chǎn)生的表面狀態(tài)變化,即由物體發(fā)熱、溫度上升的強弱差異,來實現(xiàn)對焊點的自動檢測不同SMD對激光光束吸收率的變化與多種不良狀態(tài)有著密切的關(guān)系。焊接溫度過度的的PCB 組件,焊點面常常模糊無光澤,或者容易出現(xiàn)表面粗糙的魄微粒狀,這些不良焊接對光束的吸收率高,檢測時會使焊接點溫度快速上升,使熱過程曲線處于高水平。