特點

使用了型高感度APD，感度提升及縮短測量時間

通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性?相轉(zhuǎn)移溫度

可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度

追加了大范圍的分子量測量及解析功能

懸濁類高濃度樣品的粒徑?ZETA電位的測量

實測cell內(nèi)的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結(jié)果

高鹽濃度溶液的ZETA電位測量

小面積樣品的平板ZETA電位測量

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

溶液中的粒子會呈現(xiàn)出 依賴于粒徑的布朗運動。因此，當光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動，小粒子浮動速度快，大粒子浮動速度慢。

通過光子相關(guān)法解析這種浮動，從而求出粒徑或粒度分布。

分子量測量原理：靜的光散射法（光子相關(guān)法）

靜的光散射法作為簡便的測量分子量的手法而被人們熟知。

測量原理指的是用光照射溶液中分子，根據(jù)所得的散射光的求出分子量。即，利用了大分子所得散射光強，小分子所得散射光弱的現(xiàn)象進行測量。

實際上，濃度不同，所得的散射光強度也不同。因此，要實測數(shù)點的不同濃度的溶液散射強度，并根據(jù)以下公式，橫軸設(shè)為濃度，縱軸設(shè)為散射強度的倒數(shù)，

Kc／R（θ）為plot。這被稱作Debye plot。

濃度為零，外插切片（c=0）的倒數(shù)，并求出分子量Mw，根據(jù)初期斜面求出第二維里系數(shù)A2。

分子量為大分子時，散射強度出現(xiàn)角度依存性，通過測量不同的散射角度（θ）的散射強度，可知出分子量的測量精度提高，及分子大范圍的指標的慣性半徑。

角度固定測量時，輸入推算的慣性半徑，并對角度依存測量進行相應(yīng)的補正，便可提高分子量的測量精度。